公开(公告)号：CN105572487B

公开(公告)日：2018-12-25

申请号：CN201511030715.2

申请日：2015-12-31

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 林玉洁 ,  王长红 ,  王帅 ,  代计博 ,  高原 ,  安建平 ,  卜祥元 ,  肖冀秋

IPC: G01R29/10 ,  G01R25/00

Abstract: 本发明属于天线测量技术领域，提供一种阵列天线近场幅相测量方法及幅相测量器，包括：对参考天线接收的第一混合测试信号进行采样，得到第一采样信号；对探头在当前采样位置接收的第二混合测试信号进行采样，得到第二采样信号；根据第一采样信号，计算被测阵列天线的各T/R组件、各天线单元与所述参考天线之间信道的第一幅相信息；根据第二采样信号，计算被测阵列天线的各T/R组件、各天线单元与所述探头当前采样位置之间信道的第二幅相信息；根据第一幅相信息和第二幅相信息，计算被测阵列天线在当前采样位置的近场幅相信息。采用扩频信号做为阵列天线发送的校准信号，通过对校准信号的处理，提高了被测阵列天线的幅相信息测量的精确度和效率。

公开(公告)号：CN105572487A

公开(公告)日：2016-05-11

申请号：CN201511030715.2

申请日：2015-12-31

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 林玉洁 ,  王帅 ,  代计博 ,  高原 ,  安建平 ,  卜祥元 ,  肖冀秋

IPC: G01R29/10 ,  G01R25/00

CPC classification number: G01R29/10 ,  G01R25/00

Abstract: 本发明属于天线测量技术领域，提供一种阵列天线近场幅相测量方法及幅相测量器，包括：对参考天线接收的第一混合测试信号进行采样，得到第一采样信号；对探头在当前采样位置接收的第二混合测试信号进行采样，得到第二采样信号；根据第一采样信号，计算被测阵列天线的各T/R组件、各天线单元与所述参考天线之间信道的第一幅相信息；根据第二采样信号，计算被测阵列天线的各T/R组件、各天线单元与所述探头当前采样位置之间信道的第二幅相信息；根据第一幅相信息和第二幅相信息，计算被测阵列天线在当前采样位置的近场幅相信息。采用扩频信号做为阵列天线发送的校准信号，通过对校准信号的处理，提高了被测阵列天线的幅相信息测量的精确度和效率。