公开(公告)号：CN105067629B

公开(公告)日：2018-06-12

申请号：CN201510441604.4

申请日：2015-07-24

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 胡耀光 ,  柯家伟 ,  闻敬谦 ,  毛林威 ,  邵光远

IPC: G01N21/88 ,  G01R27/02

Abstract: 本发明公开一种色环电阻外观缺陷和阻值集成检测方法，一、色环电阻通过下料机构进入传送机构，在移动中滚压机构将色环电阻两端的轴向引线碾压至与色环电阻棒体同轴；二、当色环电阻到达旋转机构时，旋转机构的加紧装置夹紧轴向引线然后匀速旋转，在夹紧同时测量色环电阻阻值并且触发相机的传感器，测得的阻值传输到计算机；三、在色环电阻匀速旋转的同时相机采集图片；四、采集的图片传入计算机进行图像处理，然后利用外观缺陷识别算法识别外观缺陷类型；五、将外观缺陷类型和阻值的综合检测结果传递给剔除机构，剔除机构执行相应指令，实现色环电阻外观缺陷和阻值的集成检测。本发明将阻值测量与外观缺陷检测集成，提高色环电阻检测的效率。

公开(公告)号：CN105067629A

公开(公告)日：2015-11-18

申请号：CN201510441604.4

申请日：2015-07-24

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 胡耀光 ,  柯家伟 ,  闻敬谦 ,  毛林威 ,  邵光远

IPC: G01N21/88 ,  G01R27/02

Abstract: 本发明公开一种色环电阻外观缺陷和阻值集成检测方法，一、色环电阻通过下料机构进入传送机构，在移动中滚压机构将色环电阻两端的轴向引线碾压至与色环电阻棒体同轴；二、当色环电阻到达旋转机构时，旋转机构的加紧装置夹紧轴向引线然后匀速旋转，在夹紧同时测量色环电阻阻值并且触发相机的传感器，测得的阻值传输到计算机；三、在色环电阻匀速旋转的同时相机采集图片；四、采集的图片传入计算机进行图像处理，然后利用外观缺陷识别算法识别外观缺陷类型；五、将外观缺陷类型和阻值的综合检测结果传递给剔除机构，剔除机构执行相应指令，实现色环电阻外观缺陷和阻值的集成检测。本发明将阻值测量与外观缺陷检测集成，提高色环电阻检测的效率。