公开(公告)号：CN102096151B

公开(公告)日：2013-02-13

申请号：CN201010606119.5

申请日：2010-12-15

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 姜澜 ,  李本业 ,  王素梅 ,  杨金鹏 ,  王猛猛

IPC: G02B6/245 ,  G02B6/25 ,  G02B6/255

Abstract: 本发明涉及一种光纤马赫-泽德干涉仪的制造方法，属于光纤传感器制造领域。具体为使用光纤熔接机在普通单模光纤上制作两个相隔一定距离的熔融-连接点，其相隔距离为5mm至60mm；在纤芯中传输的光经过第一个熔融-连接点时部分进入到光纤包层中；然后通过第二个熔融-连接点时，包层中的光再耦合回到光纤纤芯中；由于包层与纤芯中的折射率差，使得两束光形成一定的相位差，从而发生干涉。在本方法制作的干涉仪用作传感器时，外界环境如折射率、温度等的改变，将导致干涉条件的改变，从而引起干涉峰波长的偏移。通过检测干涉波长的偏移，便可以实现对外界环境如折射率、温度等改变的测量。

公开(公告)号：CN102096151A

公开(公告)日：2011-06-15

申请号：CN201010606119.5

申请日：2010-12-15

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 姜澜 ,  李本业 ,  王素梅 ,  杨金鹏 ,  王猛猛

IPC: G02B6/245 ,  G02B6/25 ,  G02B6/255

Abstract: 本发明涉及一种光纤马赫-泽德干涉仪的制造方法，属于光纤传感器制造领域。具体为使用光纤熔接机在普通单模光纤上制作两个相隔一定距离的熔融-连接点，其相隔距离为5mm至60mm；在纤芯中传输的光经过第一个熔融-连接点时部分进入到光纤包层中；然后通过第二个熔融-连接点时，包层中的光再耦合回到光纤纤芯中；由于包层与纤芯中的折射率差，使得两束光形成一定的相位差，从而发生干涉。在本方法制作的干涉仪用作传感器时，外界环境如折射率、温度等的改变，将导致干涉条件的改变，从而引起干涉峰波长的偏移。通过检测干涉波长的偏移，便可以实现对外界环境如折射率、温度等改变的测量。