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公开(公告)号:CN104089585B
公开(公告)日:2016-08-24
申请号:CN201410362863.3
申请日:2014-07-28
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/16
Abstract: 本申请公开一种基于单幅正交栅线的宏微观三维变形测量的方法,属于光测力学领域。本发明通过待测物体的尺寸及三维变形量的大小范围,选择合适频率的正交光栅及图像采集仪器,通过将被测物体旋转一个角度的方式,采集旋转后清晰地正交栅线图,利用傅里叶变换和逆傅里叶变换解耦得到单向栅线图,并计算其位移场,通过位移场确定被测物体的三维变形的测量。本发明方法测量范围广,灵敏度高,且操作简单,实现了被测物体三维变形的测量。本发明对结构及变形都为中心对称的一类物体,静态或动态的三维变形都可以实现,且效果很好。
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公开(公告)号:CN104089585A
公开(公告)日:2014-10-08
申请号:CN201410362863.3
申请日:2014-07-28
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/16
Abstract: 本申请公开一种基于单幅正交栅线的宏微观三维变形测量的方法,属于光测力学领域。本发明通过待测物体的尺寸及三维变形量的大小范围,选择合适频率的正交光栅及图像采集仪器,通过将被测物体旋转一个角度的方式,采集旋转后清晰地正交栅线图,利用傅里叶变换和逆傅里叶变换解耦得到单向栅线图,并计算其位移场,通过位移场确定被测物体的三维变形的测量。本发明方法测量范围广,灵敏度高,且操作简单,实现了被测物体三维变形的测量。本发明对结构及变形都为中心对称的一类物体,静态或动态的三维变形都可以实现,且效果很好。
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