公开(公告)号：CN103471516B

公开(公告)日：2015-11-18

申请号：CN201310395011.X

申请日：2013-09-03

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 刘战伟 ,  吴辰龙 ,  张宏业 ,  谢惠民

IPC: G01B11/16

Abstract: 本发明公开一种用于曲面变形测量的彩色CCD显微云纹法，属于实验力学技术领域。本发明的技术特点是利用标准全息光栅制作高弹性薄膜栅，将薄膜栅粘贴在待测曲面试件表面后形成曲面试件栅，利用彩色CCD相机靶面前方的拜耳滤光片作为参考栅，当曲面试件栅的像的栅距与彩色CCD相机内拜耳滤光片的6列单元相匹配时，就会形成彩色云纹条纹，计算后得到曲面试件的变形场。本发明首次将CCD云纹法应用于曲面变形的测量，提高了CCD云纹条纹质量，拓宽了云纹法的使用范围；与应变片法相比，可以实现非接触式的连续测量，测量区域可以更小，效率更高。

公开(公告)号：CN103471516A

公开(公告)日：2013-12-25

申请号：CN201310395011.X

申请日：2013-09-03

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 刘战伟 ,  吴辰龙 ,  张宏业 ,  谢惠民

IPC: G01B11/16

Abstract: 本发明公开一种用于曲面变形测量的彩色CCD显微云纹法，属于实验力学技术领域。本发明的技术特点是利用标准全息光栅制作高弹性薄膜栅，将薄膜栅粘贴在待测曲面试件表面后形成曲面试件栅，利用彩色CCD相机靶面前方的拜耳滤光片作为参考栅，当曲面试件栅的像的栅距与彩色CCD相机内拜耳滤光片的6列单元相匹配时，就会形成彩色云纹条纹，计算后得到曲面试件的变形场。本发明首次将CCD云纹法应用于曲面变形的测量，提高了CCD云纹条纹质量，拓宽了云纹法的使用范围；与应变片法相比，可以实现非接触式的连续测量，测量区域可以更小，效率更高。