公开(公告)号：CN106546414B

公开(公告)日：2018-11-06

申请号：CN201610934875.8

申请日：2016-11-01

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 史君宇 ,  崔大圣 ,  吕昕 ,  郝海东 ,  倪鸿宾

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明涉及一种应用于太赫兹成像系统的透镜可调节测试装置及方法属于太赫兹测试领域。通过本发明的方法能够得到透镜的光轴偏离检波单元的中心不同角度或距离时的测试数据，从而得到透镜位置与检波单元的方向图的对应关系，为太赫兹阵列成像系统中检波芯片的布局提供依据；本发明采用了透镜可移动的结构，解决了现有技术中透镜和检波单元的天线难以中心对准的问题。同时利用透镜的移动，又可以完成在各个偏光轴位置的透镜与检波单元的整体方向图测试，为阵列成像提供依据。

公开(公告)号：CN106546414A

公开(公告)日：2017-03-29

申请号：CN201610934875.8

申请日：2016-11-01

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 史君宇 ,  崔大圣 ,  吕昕 ,  郝海东 ,  倪鸿宾

IPC: G01M11/02

CPC classification number: G01M11/0221

Abstract: 本发明涉及一种应用于太赫兹成像系统的透镜可调节测试装置及方法属于太赫兹测试领域。通过本发明的方法能够得到透镜的光轴偏离检波单元的中心不同角度或距离时的测试数据，从而得到透镜位置与检波单元的方向图的对应关系，为太赫兹阵列成像系统中检波芯片的布局提供依据；本发明采用了透镜可移动的结构，解决了现有技术中透镜和检波单元的天线难以中心对准的问题。同时利用透镜的移动，又可以完成在各个偏光轴位置的透镜与检波单元的整体方向图测试，为阵列成像提供依据。