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公开(公告)号：CN115372930A
公开(公告)日：2022-11-22
申请号：CN202211309774.3
申请日：2022-10-25
申请人： 北京测威科技有限公司 , 中国兵器工业第五九研究所 , 北京航空航天大学云南创新研究院
摘要： 本发明实施方式提供一种外场全尺寸目标的雷达RCS测量系统，涉及外场RCS测量领域。所述测量系统包括：外场RCS测量装置，用于在外场对设置在目标区域的全尺寸目标进行雷达RCS测量；透波罩，其由透波材料制成，用于在进行所述RCS测量时，隔绝所述透波罩外部的外场环境对所述目标区域的背景电平的影响；其中，所述目标区域位于所述透波罩与承载面共同界定的内部空间中，所述目标区域与所述透波罩之间的最小间隔大于第一阈值。通过设置透波罩笼罩设置全尺寸目标的目标区域，可以避免天气等外场环境对目标区域背景电平的影响，保证背景对消技术对目标区域生效。
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公开(公告)号：CN115372929B
公开(公告)日：2023-01-03
申请号：CN202211300938.6
申请日：2022-10-24
申请人： 北京测威科技有限公司 , 中国兵器工业第五九研究所 , 北京航空航天大学云南创新研究院
摘要： 本发明提供一种外场RCS复合测量系统，涉及外场RCS测量领域。该系统包括：支架；抛物面天线，设置于支架上，其姿态能够独立于支架调整，用于向目标区域的被测目标发射电磁波，并接收被测目标产生的散射回波；RCS计算装置，用于根据所述散射回波计算被测目标的RCS；红外摄像头，设置于抛物面天线的中心，用于根据被测目标辐射的红外线对被测目标进行红外成像；显控装置，用于显示被测目标的红外图像，控制抛物面天线的姿态和红外摄像头的姿态；在测量时，红外摄像头的光轴与抛物面天线的电轴保持重合，所述显控装置根据所述红外图像控制红外摄像头对准被测目标，以引导抛物面天线对准所述被测目标。该复合测量系统可以降低RCS测量的对准精度误差。
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公开(公告)号：CN115372929A
公开(公告)日：2022-11-22
申请号：CN202211300938.6
申请日：2022-10-24
申请人： 北京测威科技有限公司 , 中国兵器工业第五九研究所 , 北京航空航天大学云南创新研究院
摘要： 本发明提供一种外场RCS复合测量系统，涉及外场RCS测量领域。该系统包括：支架；抛物面天线，设置于支架上，其姿态能够独立于支架调整，用于向目标区域的被测目标发射电磁波，并接收被测目标产生的散射回波；RCS计算装置，用于根据所述散射回波计算被测目标的RCS；红外摄像头，设置于抛物面天线的中心，用于根据被测目标辐射的红外线对被测目标进行红外成像；显控装置，用于显示被测目标的红外图像，控制抛物面天线的姿态和红外摄像头的姿态；在测量时，红外摄像头的光轴与抛物面天线的电轴保持重合，所述显控装置根据所述红外图像控制红外摄像头对准被测目标，以引导抛物面天线对准所述被测目标。该复合测量系统可以降低RCS测量的对准精度误差。
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公开(公告)号：CN115372930B
公开(公告)日：2023-01-24
申请号：CN202211309774.3
申请日：2022-10-25
申请人： 北京测威科技有限公司 , 中国兵器工业第五九研究所 , 北京航空航天大学云南创新研究院
摘要： 本发明实施方式提供一种外场全尺寸目标的雷达RCS测量系统，涉及外场RCS测量领域。所述测量系统包括：外场RCS测量装置，用于在外场对设置在目标区域的全尺寸目标进行雷达RCS测量；透波罩，其由透波材料制成，用于在进行所述RCS测量时，隔绝所述透波罩外部的外场环境对所述目标区域的背景电平的影响；其中，所述目标区域位于所述透波罩与承载面共同界定的内部空间中，所述目标区域与所述透波罩之间的最小间隔大于第一阈值。通过设置透波罩笼罩设置全尺寸目标的目标区域，可以避免天气等外场环境对目标区域背景电平的影响，保证背景对消技术对目标区域生效。
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公开(公告)号：CN111505391B
公开(公告)日：2022-05-31
申请号：CN202010384178.6
申请日：2020-05-09
申请人： 北京航空航天大学云南创新研究院 , 北京航空航天大学 , 北京昊测科技有限公司
IPC分类号： G01R29/08
摘要： 本发明提供了一种检测阵列天线中的失配天线单元的方法，包括：S1：将被测阵列天线面向收发天线对倾斜放置在转台上；S2：控制矢量网络分析仪产生频率步进变化的电磁波信号，所述电磁波信号经由发射天线发射并在自由空间中传播，遇到所述被测阵列天线后产生散射回波；S3：所述散射回波在自由空间中传播后返回接收天线，被所述矢量网络分析仪采集并记录；S4：控制所述转台旋转到下一角度，重复进行步骤S2‑S4，直到所述转台旋转到预设角度；S5：对采集的多个角度的散射回波数据进行二维散射成像处理；S6：根据被测阵列天线的二维散射像确定所述被测阵列天线中的失配天线单元。本发明采用微波暗室测量系统检测失配天线单元，检测方法简单，省时省力。
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公开(公告)号：CN111505391A
公开(公告)日：2020-08-07
申请号：CN202010384178.6
申请日：2020-05-09
申请人： 北京航空航天大学云南创新研究院 , 北京航空航天大学 , 北京昊测科技有限公司
IPC分类号： G01R29/08
摘要： 本发明提供了一种检测阵列天线中的失配天线单元的方法，包括：S1：将被测阵列天线面向收发天线对倾斜放置在转台上；S2：控制矢量网络分析仪产生频率步进变化的电磁波信号，所述电磁波信号经由发射天线发射并在自由空间中传播，遇到所述被测阵列天线后产生散射回波；S3：所述散射回波在自由空间中传播后返回接收天线，被所述矢量网络分析仪采集并记录；S4：控制所述转台旋转到下一角度，重复进行步骤S2-S4，直到所述转台旋转到预设角度；S5：对采集的多个角度的散射回波数据进行二维散射成像处理；S6：根据被测阵列天线的二维散射像确定所述被测阵列天线中的失配天线单元。本发明采用微波暗室测量系统检测失配天线单元，检测方法简单，省时省力。
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公开(公告)号：CN101059481A
公开(公告)日：2007-10-24
申请号：CN200610076707.6
申请日：2006-04-19
申请人： 北京测威科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种涂敷型吸波材料性能检测设备，包括控制单元、发射单元、接收单元、环行器、延时电缆和传感器。控制单元的微处理器根据输入输出模块设置的参数输出频率控制信号给发射单元的信号源，发射所需频段的射频信号，经过功分器分为两路，一路给混频器作为本振信号；另一路经过功率放大器放大后输入脉冲调制器，与时序发生器产生的脉冲调制信号进行调制，调制后的射频信号经环行器、延时电缆、传感器入射到被测材料的表面，反射信号经传感器、延时电缆、环行器进入射频开关，时序产生器产生开关选通信号控制射频开关的通断，选出有用的反射信号，进入混频器，与本振信号混频后经过低通滤波器滤出低频信号，经过放大后给数据采集、处理模块，数据采集、模块载入定标模块，处理后得出被测材料的吸波性能曲线，通过显示模块显示出来。
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