一种研究界面空间电荷对绝缘电气强度影响的方法

    公开(公告)号:CN119902035A

    公开(公告)日:2025-04-29

    申请号:CN202510080374.7

    申请日:2025-01-20

    Abstract: 本发明提供了一种研究界面空间电荷对绝缘电气强度影响的方法,涉及电气绝缘技术领域。所述方法制备了软接头界面等效压片样品,结合电子束辐照技术,通过调节电子束的加速能量和束流量,控制空间电荷的注入深度和数量,进而模拟实际应用中可能出现的电荷积聚情况,利用直流击穿测试对样品的电气强度进行评估,研究空间电荷分布对绝缘强度的影响。与传统的全尺寸电缆测试相比,本发明不仅大大降低了研究成本和实验复杂度,还提高了测试精度和研究的可重复性。该方法可广泛应用于电缆材料开发与电力设备性能检测中,具有重要的工程应用价值,能够为电气绝缘材料的优化和电力系统安全性提供技术支持。

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