公开(公告)号：CN104569588B

公开(公告)日：2018-02-02

申请号：CN201410796709.7

申请日：2014-12-18

Applicant: 北京无线电计量测试研究所

Inventor： 马永光 ,  康宁 ,  尚柱岗 ,  韩玉峰

IPC: G01R25/00

Abstract: 本发明公开一种在待检紧缩场暗室中，建立三维直角坐标系；根据馈源位置、反射面位置和测试区的位置关系，确定扫描架的初始位置；对扫描架的垂直和水平姿态角进行调整，使其相位检测趋势满足平面波性能要求；在扫描架的探头天线上设置激光靶标，并在扫描架与反射面间设置一激光跟踪仪，通过激光跟踪仪实时捕捉激光靶标位置，获得扫描架的位置信息和位置偏差△x；根据光速、工作频率及相位关系，获得平面波的相位偏差结果，并将该偏差结果实时的补偿到相位检测结果中，能够满足高频时紧缩场平面波相位检测要求，提高紧缩场平面波相位检测精度。

公开(公告)号：CN104569588A

公开(公告)日：2015-04-29

申请号：CN201410796709.7

申请日：2014-12-18

Applicant: 北京无线电计量测试研究所

Inventor： 马永光 ,  康宁 ,  尚柱岗 ,  韩玉峰

IPC: G01R25/00

Abstract: 本发明公开一种在待检紧缩场暗室中，建立三维直角坐标系；根据馈源位置、反射面位置和测试区的位置关系，确定扫描架的初始位置；对扫描架的垂直和水平姿态角进行调整，使其相位检测趋势满足平面波性能要求；在扫描架的探头天线上设置激光靶标，并在扫描架与反射面间设置一激光跟踪仪，通过激光跟踪仪实时捕捉激光靶标位置，获得扫描架的位置信息和位置偏差△x；根据光速、工作频率及相位关系，获得平面波的相位偏差结果，并将该偏差结果实时的补偿到相位检测结果中，能够满足高频时紧缩场平面波相位检测要求，提高紧缩场平面波相位检测精度。

公开(公告)号：CN104569941A

公开(公告)日：2015-04-29

申请号：CN201410800249.0

申请日：2014-12-18

Applicant: 北京无线电计量测试研究所

Inventor： 马永光 ,  刘阳 ,  尚柱岗 ,  韩玉峰

IPC: G01S7/41

CPC classification number: G01S7/41

Abstract: 本发明公开一种双站雷达目标特性测量同步散射点位置识别方法，包括：在暗室中建立三维直角坐标系；在所述三维直角坐标系中确定发射天线和接收天线所在位置；以所述发射天线和所述接收天线的所在位置为焦点，以测试区中待测目标所在位置分别与所述发射天线和所述接收天线的距离之和为长轴长度，在暗室中构建一个椭球面；所述同步散射点位于所述椭球面及其与所述暗室各面和内部空间的交汇处。该方法可快速找到暗室内发射天线到同步散射点部位的距离与该部位到接收天线的距离之和与发射天线到待测目标的距离与待测目标到接收天线的距离之和相等的同步散射点位置。