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公开(公告)号：CN118012556A
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202410140145.5
申请日：2024-01-31
Applicant: 北京数码大方科技股份有限公司
IPC: G06F9/451 , G06F3/0481 , G06Q50/04
Abstract: 本申请公开了一种加工操作界面的处理方法和装置、存储介质及电子设备。涉及数据处理技术领域，该方法包括：依据待加工的零部件的名称，确定所述零部件的目标工艺任务，其中，所述目标工艺任务为对所述零部件进行加工处理的工艺任务；依据所述目标工艺任务，确定对所述零部件预期加工后得到的预测部件；若不存在所述预测部件对应的历史加工操作界面，则依据所述预测部件，生成目标加工操作界面，其中，基于所述目标加工操作界面实现对所述零部件的加工。通过本申请，解决了相关技术中采用人为的方式部署零部件的加工操作界面，导致对零部件的加工效率比较低的问题。
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公开(公告)号：CN113688609A
公开(公告)日：2021-11-23
申请号：CN202110963730.1
申请日：2021-08-20
Applicant: 北京数码大方科技股份有限公司
IPC: G06F40/166 , G06F40/151
Abstract: 本发明公开了一种工艺文件的命名方法和装置，以及存储介质和处理器。其中，该方法包括：确定待命名的工艺文件所对应的目标零件；确定所述目标零件对应的属性信息；调用预设配置文件，采用所述预设配置文件处理所述目标零件对应的属性信息，得到所述目标零件的工艺文件的目标名称；采用所述目标名称为所述待命名的工艺文件进行命名处理。本发明避免了现有技术中工艺员在编制完工艺后，还要根据具体情况修改工艺文件名称的冗余工作，实现了在创建工艺时能够自动的准确的生成具有工艺业务逻辑的工艺名称的技术效果，为工艺员带来很大方便。
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公开(公告)号：CN106778044A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201710093915.5
申请日：2017-02-21
Applicant: 北京数码大方科技股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种数据处理的方法和装置。其中，该方法包括：获取第一数据发生的修改；获取当前的第二数据，以及，第一数据与第二数据的关联关系；根据关联关系确定第一数据发生的修改导致第二数据发生的变化；根据变化更新第二数据。本发明解决了现有的同步设计数据与工艺数据的方案效率低的技术问题。
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公开(公告)号：CN103020750A
公开(公告)日：2013-04-03
申请号：CN201210469669.6
申请日：2012-11-19
Applicant: 北京数码大方科技股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种工艺报表的生成方法及装置。其中，该方法包括：根据用户需求获取用于生成工艺报表的指令参数，其中，指令参数包括零部件信息和工艺报表信息；从第一明细表中提取与零部件信息相对应的零部件明细数据；从第二明细表中提取与工艺报表信息相对应的工艺报表数据，其中，工艺报表数据包括属性明细数据；查询得到零部件明细数据和属性明细数据的关联关系，并根据关联关系读取对应的零部件属性数据；导出零部件属性数据，以生成工艺报表。通过本申请，使得用户可以根据实际需求获取工艺报表，解决了现有技术中对用户生成工艺报表的需求响应速度慢且成本高的问题，实现了快速响应不同的用户需求，并生成报表的效果。
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公开(公告)号：CN114169176A
公开(公告)日：2022-03-11
申请号：CN202111518791.3
申请日：2021-12-13
Applicant: 北京数码大方科技股份有限公司
IPC: G06F30/20 , G06Q10/06 , G06Q50/04 , G06F119/02
Abstract: 本申请公开了一种事件的失效风险的确定方法、装置、存储介质及电子装置。该方法包括：获取目标事件对应的工序模板，以及目标事件对应多个失效模式信息；将多个失效模式信息与工序模板中的工序信息进行匹配，得到目标模板，并确定每个失效模式信息对应的失效指标值；获取目标事件中各个工序所匹配的失效模式信息对应的特征值，将每个特征值与失效模式信息对应的失效指标值进行对比，得到多个对比结果，并根据多个对比结果确定目标事件的失效风险结果。通过本申请，解决了相关技术中无法快速准确的得到产品生产过程中的失效风险的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113409453A
公开(公告)日：2021-09-17
申请号：CN202110790970.6
申请日：2021-07-13
Applicant: 北京数码大方科技股份有限公司
IPC: G06T17/00
Abstract: 本发明公开了一种工艺产品的展示方法及展示装置、电子设备。其中，该展示方法包括：接收目标工艺产品的产品设计文件；基于产品设计文件，生成3D工艺对象；接收文件显示指令，其中，文件显示指令用于表征待展示的工艺对象的图纸指定区域；响应文件显示指令，在图纸指定区域的浏览界面上展示3D工艺对象。本发明解决了相关技术中设计的二维工艺图纸中展示的产品图形缺乏立体感，对使用人员的专业能力要求高，降低了产品使用兴趣的技术问题。
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公开(公告)号：CN106778044B
公开(公告)日：2019-12-03
申请号：CN201710093915.5
申请日：2017-02-21
Applicant: 北京数码大方科技股份有限公司
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种数据处理的方法和装置。其中，该方法包括：获取第一数据发生的修改；获取当前的第二数据，以及，第一数据与第二数据的关联关系；根据关联关系确定第一数据发生的修改导致第二数据发生的变化；根据变化更新第二数据。本发明解决了现有的同步设计数据与工艺数据的方案效率低的技术问题。
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公开(公告)号：CN106886585A
公开(公告)日：2017-06-23
申请号：CN201710079406.7
申请日：2017-02-14
Applicant: 北京数码大方科技股份有限公司
IPC: G06F17/30
CPC classification number: G06F16/252 , G06F16/22
Abstract: 本发明公开了一种绘图应用中的数据保存方法和装置。其中，该方法包括：获取在绘图应用中绘制图像所产生的数据；至少从数据中提取可结构化数据，其中，可结构化数据至少包括文本；将图像对应的可结构化数据保存在数据库中。本发明解决了现有绘图软件无法实现将绘制的图像数据化的技术问题。
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公开(公告)号：CN114169176B
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202111518791.3
申请日：2021-12-13
Applicant: 北京数码大方科技股份有限公司
IPC: G06F18/22 , G06Q10/0635 , G06Q50/04
Abstract: 本申请公开了一种事件的失效风险的确定方法、装置、存储介质及电子装置。该方法包括：获取目标事件对应的工序模板，以及目标事件对应多个失效模式信息；将多个失效模式信息与工序模板中的工序信息进行匹配，得到目标模板，并确定每个失效模式信息对应的失效指标值；获取目标事件中各个工序所匹配的失效模式信息对应的特征值，将每个特征值与失效模式信息对应的失效指标值进行对比，得到多个对比结果，并根据多个对比结果确定目标事件的失效风险结果。通过本申请，解决了相关技术中无法快速准确的得到产品生产过程中的失效风险的问题。
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公开(公告)号：CN118520527A
公开(公告)日：2024-08-20
申请号：CN202410592532.2
申请日：2024-05-13
Applicant: 北京数码大方科技股份有限公司
IPC: G06F30/10
Abstract: 本申请公开了一种零部件视图的校验方法、装置、存储介质以及电子设备。涉及产品设计领域或其他相关领域，该方法包括：获取目标产品的设计视图和工艺视图，识别设计视图得到M个设计零部件数据，识别工艺视图得到N个工艺零部件数据；判断设计视图是否为已校验视图，在设计视图不为已校验视图的情况下，根据第一校验策略对M个设计零部件数据和N个工艺零部件数据进行校验，得到校验结果；在设计视图为已校验视图的情况下，根据第二校验策略对N个工艺零部件数据进行校验，得到校验结果，并将校验结果发送至客户端。通过本申请，解决了相关技术中对设计视图和工艺视图进行校验时存在校验效率低、校验精确度低的问题。
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