Patent search ap:("北京控制与电子技术研究所" OR "北京邮电大学") AND inv:"宋旭伟" Page 1

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发明公开
对抗样本生成方法、装置、电子设备及存储介质审中-实审

公开(公告)号：CN116883777A

公开(公告)日：2023-10-13

申请号：CN202310752989.0

申请日：2023-06-25

Applicant: 北京控制与电子技术研究所 , 北京邮电大学

Inventor： 牛旭 , 王婷婷 , 张伟 , 宋旭伟 , 王永吉

IPC: G06V10/774

Abstract: 本申请提供一种对抗样本生成方法、装置、电子设备及存储介质。所述方法包括：对至少一个初始样本添加扰动，得到对抗样本种群；根据所述对抗样本的适应度，筛选得到预设数量个精英对抗样本；将所述精英对抗样本对应的初始样本输入目标检测模型，得到第一识别结果，所述第一识别结果为真实识别结果；将所述精英对抗样本输入所述目标检测模型，得到第二识别结果；响应于确定所述第二识别结果与所述第一识别结果一致，确定所述精英对抗样本为目标对抗样本。通过本申请可以提高对抗样本生成的成功率。

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