一种基于原子力显微镜测试集料表面粗糙度的方法

    公开(公告)号:CN108333389A

    公开(公告)日:2018-07-27

    申请号:CN201810016670.0

    申请日:2018-01-08

    Abstract: 本发明涉及一种基于原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)测试集料表面粗糙度的测试方法。包括如下步骤:1)制备集料试件。2)利用AFM中的轻敲(Tapping)模式对集料表面粗糙度进行测试。3)将测试所得到的三维坐标信息通过Nanoscape Analysis导出。4)对集料表面粗糙度的轮廓算数平均偏差Ra进行有效性验证。5)采用SPSS软件中的独立样本t检验集料表面粗糙度的区分性。本发明为一种基于AFM镜测试集料表面粗糙度的方法,AFM作为纳米科技研究中的主要工具,应用在新一代微电子芯片、光学系统、新材料以及生物工程等领域,采用AFM技术测试集料表面粗糙度的研究目前相对较少,对集料表面粗糙度的分析十分有限,而对于在集料表面粗糙度的研究,研究者大部分采用的是分形理论。

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