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发明公开
一种文物岩石劣化位置的检测方法、装置、设备及介质审中-实审

公开(公告)号：CN117491595A

公开(公告)日：2024-02-02

申请号：CN202311440076.1

申请日：2023-11-01

Applicant: 北京建筑大学

Inventor： 王秀芳 , 张傲楠 , 卞立波 , 宋祝同

IPC: G01N33/24 , G01N3/08 , G01N3/40

Abstract: 本申请提供了一种文物岩石劣化位置的检测方法、装置、设备及介质，针对于待检测文物岩石上每个不同位置的检测点，确定位于该检测点位置处的岩石的石质参数值；基于位于该检测点位置处的岩石的石质参数值计算位于该检测点位置处的岩石的硬度值；利用多个所述硬度值从多个所述检测点中筛选出劣化检测点，并将所述待检测文物岩石上所述劣化检测点所处的位置确定为岩石劣化位置。根据所述方法和装置，提升了文物岩石中劣化位置检测的效率和准确率，解决了现有技术中通过人工检测劣化位置所产生的效率低且准确率不高的问题。

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