公开(公告)号：CN111349187B

公开(公告)日：2023-03-03

申请号：CN201811568414.9

申请日：2018-12-21

Applicant: 北京市计量检测科学研究院

Inventor： 赵晓宁 ,  张国城 ,  沈正生

IPC: C08F212/08 ,  C08F212/36 ,  C08K3/04 ,  G01N15/06

Abstract: 一种制备不同黑度及粒径的苯乙烯微球的方法，包括如下步骤：(1)、制备黑色的碳量子点；(2)、制备有不同黑度及粒径的聚苯乙烯，通过控制搅拌加入一定量的碳量子点，不同比例的苯乙烯和二乙烯基苯，引发剂、分散剂、水及乙醇等及搅拌速度得到不黑度和不同粒径的苯乙烯微球。以及一种应用于激光粉尘仪检定、校准或测试的“标尺”，其为具有不同黑度及粒径的苯乙烯微球。本方法制备步骤少且工艺简单，应用广泛，这样的“标尺”对于环境粉尘，特别是激光粉尘仪计量检定、校准或测试具有重要意义。

公开(公告)号：CN107990928A

公开(公告)日：2018-05-04

申请号：CN201711172046.1

申请日：2017-11-22

Applicant: 北京市计量检测科学研究院

Inventor： 张国城 ,  沈正生 ,  杨振琪 ,  赵红达

IPC: G01D21/00

Abstract: 本发明公开了一种浮游菌采样头采样的物理效率的检测方法，包括：依据单分散颗粒物气溶胶发生装置，产生特定粒径的颗粒物标准粒子；打开空白采样头阀门，关闭被测采样头阀门，测量经过空白采样头采集后的气溶胶检测腔内所述颗粒物标准粒子的第一颗粒物浓度；打开所述被测采样头阀门，关闭所述空白采样头阀门，测量经过被测采样头采集后的气溶胶检测腔内所述颗粒物标准粒子的第二颗粒物浓度；将所述第一颗粒物浓度和所述第二颗粒物浓度传递给预设的物理效率计算公式，得到被测采样头采样的物理效率。上述的方法，避免了培养细菌，采样周期长，检测环境条件苛刻，温湿度要求高的问题。

公开(公告)号：CN111349187A

公开(公告)日：2020-06-30

申请号：CN201811568414.9

申请日：2018-12-21

Applicant: 北京市计量检测科学研究院

Inventor： 赵晓宁 ,  张国城 ,  沈正生

IPC: C08F212/08 ,  C08F212/36 ,  C08K3/04 ,  G01N15/06

Abstract: 一种制备不同黑度及粒径的苯乙烯微球的方法，包括如下步骤：(1)、制备黑色的碳量子点；(2)、制备有不同黑度及粒径的聚苯乙烯，通过控制搅拌加入一定量的碳量子点，不同比例的苯乙烯和二乙烯基苯，引发剂、分散剂、水及乙醇等及搅拌速度得到不黑度和不同粒径的苯乙烯微球。以及一种应用于激光粉尘仪检定、校准或测试的“标尺”，其为具有不同黑度及粒径的苯乙烯微球。本方法制备步骤少且工艺简单，应用广泛，这样的“标尺”对于环境粉尘，特别是激光粉尘仪计量检定、校准或测试具有重要意义。

公开(公告)号：CN105092215A

公开(公告)日：2015-11-25

申请号：CN201510483974.4

申请日：2015-08-10

Applicant: 北京市计量检测科学研究院

Inventor： 贾亚青 ,  吴红 ,  沈正生 ,  赵海波

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明公开了非色散原子荧光激发光源杂质检测装置。所述装置包括：暗箱机壳、光源固定支架、光源电控装置、透镜、衰减窗、紫外光谱探测部件和主机处理器。暗箱机壳关闭后无杂散光进入，安装结构固定被测光源，有螺丝和压片可根据被测灯作适当调节，根据光源的不同强度配合使用透镜和衰减窗，有电脑处理器处理检测数据，能够直接给出光源是否含杂和杂质元素的确认等测试结果。本发明的有益效果是：该项目研究成果为非色散原子荧光光度计的生产厂家及使用者提供激发光源筛选依据，可为非色散原子荧光激发光源生产企业提供改进方向，对非色散原子荧光法测量结果的分析有重要意义。

公开(公告)号：CN105157953A

公开(公告)日：2015-12-16

申请号：CN201510483975.9

申请日：2015-08-10

Applicant: 北京市计量检测科学研究院

Inventor： 沈正生 ,  吴红 ,  贾亚青 ,  赵海波

IPC: G01M11/02 ,  G01J3/28

Abstract: 本发明公开了非色散原子荧光激发光源纯度检测的方法。所述检测方法是通过研制出的原子荧光光源检测的标准装置(包括适用于紫外区的专用小型光谱探测的部件、自动控制系统)，结合数据采集处理分析软件，制定非色散原子荧光激发光源的标准数据图谱库(12种元素)，通过去除背景噪声，再与标准图谱进行比对，来实现原子荧光激发光源元素的确认和纯度检测。本发明的有益效果是：该项目研究成果可为非色散原子荧光激发光源生产企业提供改进方向，为非色散原子荧光光度计的生产厂家及使用者提供激发光源筛选依据，对提高非色散原子荧光法测量结果的可靠性具有重要意义。

公开(公告)号：CN205209743U

公开(公告)日：2016-05-04

申请号：CN201520595138.0

申请日：2015-08-10

Applicant: 北京市计量检测科学研究院

Inventor： 贾亚青 ,  吴红 ,  沈正生 ,  赵海波

IPC: G01M11/02

Abstract: 本专利公开了非色散原子荧光激发光源杂质检测装置。所述装置包括：暗箱机壳、光源固定支架、光源电控装置、透镜、衰减窗、紫外光谱探测部件和电脑处理器。暗箱机壳关闭后无杂散光进入，光源固定支架固定被测光源，有螺丝和压片可根据被测灯作适当调节，根据光源的不同强度配合使用透镜和衰减窗，有电脑处理器处理检测数据，能够直接给出光源是否含杂和杂质元素的确认等测试结果。本实用新型的有益效果是：该项目研究成果为非色散原子荧光光度计的生产厂家及使用者提供激发光源筛选依据，可为非色散原子荧光激发光源生产企业提供改进方向，对非色散原子荧光法测量结果的分析有重要意义。