公开(公告)号：CN115143883A

公开(公告)日：2022-10-04

申请号：CN202210760833.2

申请日：2022-06-30

Applicant: 北京市测绘设计研究院

Inventor： 易致礼 ,  沈晴鹤 ,  张骏

IPC: G01B11/00

Abstract: 本发明涉及一种测量方法及测量系统。该方法包括如下步骤：将测量模具放于待测圆柱体的待测平面处，使测量模具上的放置孔的孔心与待测圆柱体的待测平面中心重合；在测量模具的主体上与孔心位于同一直线上的区域，任意选取两个参照点；获取两个参照点之间的实测距离值，并计算其中一个参照点和孔心之间理论距离值与两个参照点之间的实测距离值的比值；根据上述获得参数，并利用相似三角形定律获得待测平面中心的坐标值。本申请在整个测量过程中，只需在测量模具的主体上与孔心位于同一直线上的区域，任意选取两个参照点，即可以实现待测平面中心坐标值的测量，相较于现有技术中，需要两次设站和选取三个点的方式而言，提高了测量效率和精度。

公开(公告)号：CN115143883B

公开(公告)日：2023-06-30

申请号：CN202210760833.2

申请日：2022-06-30

Applicant: 北京市测绘设计研究院

Inventor： 易致礼 ,  沈晴鹤 ,  张骏

IPC: G01B11/00

Abstract: 本发明涉及一种测量方法及测量系统。该方法包括如下步骤：将测量模具放于待测圆柱体的待测平面处，使测量模具上的放置孔的孔心与待测圆柱体的待测平面中心重合；在测量模具的主体上与孔心位于同一直线上的区域，任意选取两个参照点；获取两个参照点之间的实测距离值，并计算其中一个参照点和孔心之间理论距离值与两个参照点之间的实测距离值的比值；根据上述获得参数，并利用相似三角形定律获得待测平面中心的坐标值。本申请在整个测量过程中，只需在测量模具的主体上与孔心位于同一直线上的区域，任意选取两个参照点，即可以实现待测平面中心坐标值的测量，相较于现有技术中，需要两次设站和选取三个点的方式而言，提高了测量效率和精度。

公开(公告)号：CN218864927U

公开(公告)日：2023-04-14

申请号：CN202221664975.0

申请日：2022-06-30

Applicant: 北京市测绘设计研究院

Inventor： 易致礼 ,  沈晴鹤 ,  张骏

IPC: G01B5/00

Abstract: 本实用新型涉及一种测量模具。该模具包括主体、和至少两个参照点；主体上设有供待测圆柱体穿设的放置孔，且放置孔中设有用于对待测圆柱体进行定位的限位部，以使放置孔的孔心与待测圆柱体的轴线重合；至少两个参照点设置于主体上，且与放置孔孔心位于同一直线上。通过限位部用于对穿设至放置孔中的待测圆柱体进行定位，使得待测圆柱体的轴线与放置孔的孔心重合，从而将获取待测圆柱体的中心坐标转换成对放置孔的孔心坐标的获取，而测量模具的放置孔的孔心与两个参照点之间的相对位置较为精确，且两个参照点与孔心在同一直线上，从而能够通过两个参照点准确拟合出孔心坐标，且减少了其他参照的引入，进而提高了待测圆柱体中心坐标测量的精度。