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公开(公告)号：CN115600264A
公开(公告)日：2023-01-13
申请号：CN202211161062.1
申请日：2022-09-22
Applicant: 北京工业大学(CN)
IPC: G06F30/10 , G06F113/10
Abstract: 本发明公开了一种WAAM成形构件表面几何轮廓的表征方法。该方法首先对WAAM成形构件进行3D激光扫描，基于扫描模型提取构件截面轮廓的坐标信息，再对构件原始轮廓曲线进行移动平均值滤波，通过提取修正后轮廓曲线上的极值点坐标，提出采用正弦半波的函数形式进行构件的轮廓表征。本发明提出的方法能快速、便捷地对WAAM成形构件表面轮廓进行定量表征，方法简单准确，能够为WAAM成形构件的质量评价、有限元数值模拟分析等提供可靠依据。
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