公开(公告)号：CN104316857A

公开(公告)日：2015-01-28

申请号：CN201410602370.2

申请日：2014-10-31

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 陈君 ,  张小玲 ,  谢雪松 ,  田蕴杰 ,  李嘉楠 ,  哈悦

IPC: G01R31/26

Abstract: IGBT热疲劳测试系统，是基于嵌入式技术领域与微电子可靠性试验相结合而设计实现的一种测试系统。该系统将ARM Cortex-M3作为主CPU，控制外部DA转换电路，AD转换电路、多路温度采集电路、多路继电器切换电路。外接12位高精度三线制DAC7512，控制IGBT的栅极电压，通过多路继电器选择电路将采样值送入AD转换模块，根据IGBT的温度特性，栅电压越高，集电极和发射极间电流越大，温度就会越高，采用PID增量式算法调整IGBT栅极电压，从而得到恒定功率、恒定温度的状态以满足器件可靠性试验设计的要求。本发明是基于μC/OS-II嵌入式实时操作系统，集多传感器数据采集、PID算法控制、报警设置等功能于一体的IGBT热疲劳测试系统。

公开(公告)号：CN103226534A

公开(公告)日：2013-07-31

申请号：CN201310109456.7

申请日：2013-03-29

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 张本云 ,  谢雪松 ,  张小玲 ,  吕长志 ,  佘硕杰 ,  田蕴杰

IPC: G06F13/38

Abstract: 隔离型高速数据采集卡，属于嵌入式测量技术领域。待测模拟信号经输入接口连接至增益控制电路（103），增益控制电路（103）的输出端连接至差分驱动电路（104），差分驱动电路（104）的输出端连接至ADC模数转换电路（105），ADC模数转换电路（105）的输出端连接至信号隔离电路（106），信号隔离电路（106）的输出端连接至FPGA（107），FPGA（107）内部有数据处理电路和嵌入式的软内核处理器，该处理器控制将数据缓存至SDRAM，数据从SDRAM经过网络接口电路（108）传送至主机终端（109）；所述的内核处理器是nios处理器。本发明中信号采集可程控，被测信号与外部电路电气隔离，控制芯片内部电路可编程升级，提高了数据传输的稳定性和应用的灵活性。