公开(公告)号：CN110196276B

公开(公告)日：2023-12-22

申请号：CN201910552740.9

申请日：2019-06-25

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 焦敬品 ,  梁文圆 ,  何存富 ,  吴斌

IPC: G01N27/83

Abstract: 本发明公开了一种基于宽带激励的铁磁性材料大范围损伤低频电磁检测方法，根据铁磁性构件待检测缺陷的尺寸，确定低频电磁传感器的磁场信号检测方向；选定参考信号及检测信号采集位置，固定传感器与被测试件的提离距离，激励一Chirp信号作为宽带励磁信号，进行宽带激励低频电磁检测；由计算机对采集到的宽带检测信号进行处理；利用参考信号与缺陷检测信号间的欧式距离作为缺陷表征参量，得到铁磁性构件上、下表面不同深度缺陷欧氏距离随检测位置变化曲线；通过对低频电磁宽带检测信号进行分析处理，利用宽带激励下电磁响应信号与参考信号的欧式距离表征材料损伤程度变化，可有效减弱磁场趋肤效应的影响，有利于材料不同深度上、下表面缺陷的有效表征。

公开(公告)号：CN110196276A

公开(公告)日：2019-09-03

申请号：CN201910552740.9

申请日：2019-06-25

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 焦敬品 ,  梁文圆 ,  何存富 ,  吴斌

IPC: G01N27/83

Abstract: 本发明公开了一种基于宽带激励的铁磁性材料大范围损伤低频电磁检测方法，根据铁磁性构件待检测缺陷的尺寸，确定低频电磁传感器的磁场信号检测方向；选定参考信号及检测信号采集位置，固定传感器与被测试件的提离距离，激励一Chirp信号作为宽带励磁信号，进行宽带激励低频电磁检测；由计算机对采集到的宽带检测信号进行处理；利用参考信号与缺陷检测信号间的欧式距离作为缺陷表征参量，得到铁磁性构件上、下表面不同深度缺陷欧氏距离随检测位置变化曲线；通过对低频电磁宽带检测信号进行分析处理，利用宽带激励下电磁响应信号与参考信号的欧式距离表征材料损伤程度变化，可有效减弱磁场趋肤效应的影响，有利于材料不同深度上、下表面缺陷的有效表征。