一种适用于超声全聚焦成像的优化延时乘和方法

    公开(公告)号:CN119760278A

    公开(公告)日:2025-04-04

    申请号:CN202411917919.7

    申请日:2024-12-24

    Abstract: 本发明公开了一种适用于超声全聚焦成像的优化延时乘和方法,步骤一、获得超声阵列信号;步骤二、计算超声时域信号的希尔伯特变换;步骤三、划分超声阵列成像区域像素网格,计算所有阵元到达成像像素点的距离;步骤四、根据获取的阵元到像素点距离计算超声波到达时间,并提取步骤二所有时域信号对应的希尔伯特变换后的值;步骤五、计算信号幅值的带符号平方根,并进行改进延时乘和聚焦计算;步骤六、对上一步延时乘和计算结果取模,获得最终成像结果在数学表达方面改进了传统的延时乘和计算方法,大幅降低延时乘和的计算量,提高运算效率,帮助超声无损检测获得更高质量的成像结果。

    一种基于超声导波场的多时刻空间波数成像方法

    公开(公告)号:CN118067841A

    公开(公告)日:2024-05-24

    申请号:CN202410337859.5

    申请日:2024-03-24

    Abstract: 本发明公开一种基于超声导波场的多时刻空间波数成像方法,布置压电陶瓷传感器激励正弦调制的tone‑burst信号,利用激光超声检测系统在波场内逐点接收,获取导波全波场信息。通过希尔伯特变换获取多时刻导波场的解析信号信息,利用幅值排序,多聚类方法进行相位解缠绕,求取相位梯度获取波数信息,检测点对应的不同时刻波数值按降序排列后提取中值波数作为该位置处的波数值,对所有测量点均进行该操作获取空间各位置处的波数值。计算待测材料的波数‑厚度映射关系,基于该关系计算检测区域的板厚信息。本发明对缺陷进行成像和量化检测,提高了缺陷的成像质量和量化检测精度,在无损检测与结构健康监测领域具有极大的应用价值。

Patent Agency Ranking