Patent search ap:("北京工业大学") AND inv:"杨逸飞" Page 1

1.

发明公开
一种单管半导体激光器老化测试装置无效

公开(公告)号：CN111239581A

公开(公告)日：2020-06-05

申请号：CN202010182915.4

申请日：2020-03-16

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 王智勇 , 杨逸飞 , 刘友强 , 秦文斌 , 曹银花

IPC: G01R31/26

Abstract: 本发明涉及半导体激光器制造领域，公开了一种单管半导体激光器老化测试装置，包括搭载平台、供电搭接件及探针组件；搭载平台用于搭载预测试的单管半导体激光器；供电搭接件安装在搭载平台上，并与探针组件相连接；供电搭接件用于伸向预测试的单管半导体激光器上侧的预设位置，以使得探针组件的端部与预测试的单管半导体激光器的电极相接触；本发明结构简单、成本低廉，可十分精细对预测试的单管半导体激光器进行通电操作，其操作便捷且精准可靠，并不会对预测试的单管半导体激光器的结构造成损坏，大大方便了对预测试的单管半导体激光器的老化测试。

Patent Agency Ranking