公开(公告)号：CN116015308B

公开(公告)日：2025-04-29

申请号：CN202211567865.7

申请日：2022-12-08

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 万培元 ,  张阔 ,  李泽阳 ,  陈志杰

IPC: H03M3/00

Abstract: 本发明提出了一种用于连续时间型Sigma‑Delta调制器的相位域量化残差检测模块，包括上升沿和下降沿D触发器，两输入与非门，正负两种极性的量化相位检测电路以及两输入与门，通过对采样时钟和输入数据的相位进行检测，得到每一级的量化残差，并转化为时间域上具有不同占空比的方波信号，从而作为后续级联Sigma‑Delta调制器的输入，为基于压控振荡器的连续时间型Sigma‑Delta调制器的MASH结构提供了一种解决方案，该发明通过简单的电路改进并保留了相位域量化残差工作速度快的优点，有效避免了因依靠多级数据互相参考导致输出残差不准确的问题。

公开(公告)号：CN116015308A

公开(公告)日：2023-04-25

申请号：CN202211567865.7

申请日：2022-12-08

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 万培元 ,  张阔 ,  李泽阳 ,  陈志杰

IPC: H03M3/00

Abstract: 本发明提出了一种用于连续时间型Sigma‑Delta调制器的相位域量化残差检测模块，包括上升沿和下降沿D触发器，两输入与非门，正负两种极性的量化相位检测电路以及两输入与门，通过对采样时钟和输入数据的相位进行检测，得到每一级的量化残差，并转化为时间域上具有不同占空比的方波信号，从而作为后续级联Sigma‑Delta调制器的输入，为基于压控振荡器的连续时间型Sigma‑Delta调制器的MASH结构提供了一种解决方案，该发明通过简单的电路改进并保留了相位域量化残差工作速度快的优点，有效避免了因依靠多级数据互相参考导致输出残差不准确的问题。