公开(公告)号：CN103728546A

公开(公告)日：2014-04-16

申请号：CN201410016013.8

申请日：2014-01-14

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 张小玲 ,  谢雪松 ,  刘榿 ,  吕长志 ,  李志国

IPC: G01R31/26 ,  G05D23/22

Abstract: 晶体管加速寿命试验及工作点稳定的系统，属于测量技术及方法的范畴。包括了放置器件的加热热穴（101），加热平台（102），固定加热平台（102）的主机箱（106）中连接了温度控制器（107），温度显示器（103），电源偏置显示器（104），电源偏置控制器（105），所述的在加热平台（102）上有30个相同形状可放置B3型封装晶体管的加热热穴（101）。本发明能实现同时对30只同型号的晶体管进行加热和工作点稳定的功能。

公开(公告)号：CN103728546B

公开(公告)日：2016-06-01

申请号：CN201410016013.8

申请日：2014-01-14

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 张小玲 ,  谢雪松 ,  刘榿 ,  吕长志 ,  李志国

IPC: G01R31/26 ,  G05D23/22

Abstract: 晶体管加速寿命试验及工作点稳定的系统，属于测量技术及方法的范畴。包括了放置器件的加热热穴（101），加热平台（102），固定加热平台（102）的主机箱（106）中连接了温度控制器（107），温度显示器（103），电源偏置显示器（104），电源偏置控制器（105），所述的在加热平台（102）上有30个相同形状可放置B3型封装晶体管的加热热穴（101）。本发明能实现同时对30只同型号的晶体管进行加热和工作点稳定的功能。