信号处理方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN116095505A

    公开(公告)日:2023-05-09

    申请号:CN202111273158.2

    申请日:2021-10-29

    Inventor: 黄臣 冯天 刘成涛

    Abstract: 本公开涉及一种信号处理方法、装置、电子设备及存储介质,方法包括:获取所述电子设备在满足预设条件下拍摄的样本图像,其中,所述预设条件包括暗环境条件;根据所述样本图像,确定与所述样本图像的样本拍摄工况对应的黑电平偏移参数;根据所述黑电平偏移参数,对所述目标拍摄工况对应的待校正黑电平偏移参数进行校正,所述目标拍摄工况是根据所述样本拍摄工况确定的。无需在制造电子设备的过程中进行黑电平偏移参数的标定,降低电子设备的生产成本以及生产工时。

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