密封性能的检测方法及装置、电子设备

    公开(公告)号:CN115119127A

    公开(公告)日:2022-09-27

    申请号:CN202110302700.6

    申请日:2021-03-22

    Abstract: 本公开是关于一种密封性能的检测方法及装置、电子设备。所述检测方法应用于电子设备,该检测方法包括:获取麦克风基于播放的粉躁音频采集到的声音信号;滤除所述声音信号中的底噪信号,获取粉躁有效信号;对所述粉躁有效信号进行信号处理获取所述粉躁有效信号的能量衡量指标;根据所述能量衡量指标与预设阈值的比较结果,判定所述麦克风的密封性能。

    屏下摄像头校准方法、校准装置、校准系统及存储介质

    公开(公告)号:CN117221514A

    公开(公告)日:2023-12-12

    申请号:CN202210610337.9

    申请日:2022-05-31

    Inventor: 杨磊 姜兆宝

    Abstract: 本公开是关于一种屏下摄像头校准方法、屏下摄像头校准装置、校准系统及存储介质。该屏下摄像头校准方法,包括:检测待校准电子设备中用于进行图像数据处理的芯片接口类型;基于芯片接口类型确定待校准电子设备中的屏下摄像头的参数校准方式;基于参数校准方式确定出在自动化校准线上对待校准电子设备进行屏下摄像头参数校准的校准平台;基于确定出的校准平台对待校准电子设备中的屏下摄像头进行校准测试。本申请中对待校准电子设备的屏下摄像头进行校准时,可根据芯片接口类型自动切换校准平台,采用对应的参数校准方式对待校准电子设备的屏下摄像头进行参数校准,从而实现在自动化校准线上对大规模多批次电子设备的屏下摄像头进行自动化校准。

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