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公开(公告)号：CN111981947A
公开(公告)日：2020-11-24
申请号：CN202010976710.3
申请日：2020-09-16
Applicant: 北京大学
IPC: G01B5/06
Abstract: 本公开是有关于一种适用于固液混合光卤石矿层厚度测量的装置，包括：一采样管、若干延长管、一传送结构和一支架。所述采样管的末端连接于所述延长管，所述采样管的前端为采样头，用于对光卤石矿层进行采样和测量。所述延长管和所述采样管连接，依次穿过所述传送结构，并在所述传送结构的驱动下，所述延长管和所述采样管沿直线运动，使所述采样管的采样头贯穿光卤石矿层，实现对光卤石矿层的采样和测量。所述传送结构固定于所述支架上，所述支架固定于工作船上。本公开提供的适用于固液混合光卤石矿层厚度测量的装置，采用了由多个隔板排列组成倒齿结构的采样头，能够在采样管螺旋下沉过程中将光卤石截留在隔板内，进而提高了测量精度。
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公开(公告)号：CN112683128B
公开(公告)日：2022-03-11
申请号：CN202110133117.7
申请日：2021-01-29
Applicant: 北京大学
IPC: G01B5/06
Abstract: 本公开有关于一种测量固液混合光卤石矿层厚度的装置，包括：一采样管、若干延长管和一传送结构。所述采样管的前端具有一采样头，用于对固液混合光卤石矿层进行采样和厚度测量；所述延长管连接于所述采样管的末端，所述采样管和所述延长管连接后依次穿过所述传送结构；所述传送结构，用于驱动连接后的所述采样管和所述延长管，使连接后的所述采样管和所述延长管沿直线运动，所述采样头贯穿固液混合光卤石矿层，实现对光卤石矿层的采样和厚度测量。本公开提供的测量固液混合光卤石矿层厚度的装置，采用了由多个隔板排列组成倒齿结构的采样头，能够在采样管螺旋下沉过程中将光卤石截留在隔板内，进而提高了测量精度。
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公开(公告)号：CN112683128A
公开(公告)日：2021-04-20
申请号：CN202110133117.7
申请日：2021-01-29
Applicant: 北京大学
IPC: G01B5/06
Abstract: 本公开有关于一种测量固液混合光卤石矿层厚度的装置，包括：一采样管、若干延长管和一传送结构。所述采样管的前端具有一采样头，用于对固液混合光卤石矿层进行采样和厚度测量；所述延长管连接于所述采样管的末端，所述采样管和所述延长管连接后依次穿过所述传送结构；所述传送结构，用于驱动连接后的所述采样管和所述延长管，使连接后的所述采样管和所述延长管沿直线运动，所述采样头贯穿固液混合光卤石矿层，实现对光卤石矿层的采样和厚度测量。本公开提供的测量固液混合光卤石矿层厚度的装置，采用了由多个隔板排列组成倒齿结构的采样头，能够在采样管螺旋下沉过程中将光卤石截留在隔板内，进而提高了测量精度。
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公开(公告)号：CN212363043U
公开(公告)日：2021-01-15
申请号：CN202022033281.4
申请日：2020-09-16
Applicant: 北京大学
IPC: G01B5/06
Abstract: 本实用新型是有关于一种适用于固液混合光卤石矿层厚度测量的装置，包括：一采样管、若干延长管、一传送结构和一支架。所述采样管的末端连接于所述延长管，所述采样管的前端为采样头，用于对光卤石矿层进行采样和测量。所述延长管和所述采样管连接，依次穿过所述传送结构，并在所述传送结构的驱动下，所述延长管和所述采样管沿直线运动，使所述采样管的采样头贯穿光卤石矿层，实现对光卤石矿层的采样和测量。所述传送结构固定于所述支架上，所述支架固定于工作船上。本实用新型提供的适用于固液混合光卤石矿层厚度测量的装置，采用了由多个隔板排列组成倒齿结构的采样头，能够在采样管螺旋下沉过程中将光卤石截留在隔板内，进而提高了测量精度。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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