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公开(公告)号：CN111624645B
公开(公告)日：2021-08-13
申请号：CN202010529541.9
申请日：2020-06-11
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
IPC: G01T1/202
Abstract: 本发明公开了一种双端读出晶体探测器的作用深度刻度表的快速生成方法及相应晶体探测器，所述方法包括：获取在非准直光源照射条件下探测晶体两端的光电转换器件的输出信号的差异的计数统计分布曲线；提取所述计数统计分布曲线的两个边界；确定在所述两个边界处的输出信号的差异；依据所述输出信号的差异及对应的、非准直光源所发射的光子作用在探测晶体两端时的作用深度位置的值，计算求得作用深度刻度表。所述方法大幅度简化了作用深度刻度表的生成过程，提高了作用深度表的生成速度，避免了准直误差引入的作用深度刻度表的非精确性，提高了所述晶体探测器的工程实用价值。
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公开(公告)号：CN111080539B
公开(公告)日：2020-10-30
申请号：CN201911217572.4
申请日：2019-12-03
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于二范数约束和平滑约束的点源图像重建方法及相应的成像仪，所述点源图像重建方法包括：获取放射源即所述点源所发射的辐射粒子在成像仪中的探测器中分布p以及相关系统传输矩阵a；设定所述点源图像即所述放射源分布图像的初值f(0)；基于二范数约束和平滑约束，对所述放射源分布图像的值f进行迭代运算，以重建所述点源图像。本发明的点源图像重建方法减少重建图像的伪影，保证图像的平滑度，提高了重建辐射图像的信噪比；本发明的成像仪能够实现高质量的重建图像。
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公开(公告)号：CN111624645A
公开(公告)日：2020-09-04
申请号：CN202010529541.9
申请日：2020-06-11
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
IPC: G01T1/202
Abstract: 本发明公开了一种双端读出晶体探测器的作用深度刻度表的快速生成方法及相应晶体探测器，所述方法包括：获取在非准直光源照射条件下探测晶体两端的光电转换器件的输出信号的差异的计数统计分布曲线；提取所述计数统计分布曲线的两个边界；确定在所述两个边界处的输出信号的差异；依据所述输出信号的差异及对应的、非准直光源所发射的光子作用在探测晶体两端时的作用深度位置的值，计算求得作用深度刻度表。所述方法大幅度简化了作用深度刻度表的生成过程，提高了作用深度表的生成速度，避免了准直误差引入的作用深度刻度表的非精确性，提高了所述晶体探测器的工程实用价值。
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公开(公告)号：CN111080539A
公开(公告)日：2020-04-28
申请号：CN201911217572.4
申请日：2019-12-03
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于二范数约束和平滑约束的点源图像重建方法及相应的成像仪，所述点源图像重建方法包括：获取放射源即所述点源所发射的辐射粒子在成像仪中的探测器中分布p以及相关系统传输矩阵a；设定所述点源图像即所述放射源分布图像的初值f(0)；基于二范数约束和平滑约束，对所述放射源分布图像的值f进行迭代运算，以重建所述点源图像。本发明的点源图像重建方法减少重建图像的伪影，保证图像的平滑度，提高了重建辐射图像的信噪比；本发明的成像仪能够实现高质量的重建图像。
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