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公开(公告)号:CN103364073A
公开(公告)日:2013-10-23
申请号:CN201310317678.8
申请日:2013-07-25
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
IPC: G01H11/02
Abstract: 本发明公开了一种利用磁场测量微振动的方法,包括将永磁铁与微振动被测件固连,并通过磁场强度测量装置测量磁场强度变化量来计算得到微振动的最小角位移和线位移。本发明利用永磁铁与机械结构固结,机械振动带动永磁铁上磁偶极子位置、矢量方向的改变。这种磁源位置、磁偶极子指向变化造成固定磁强计上探测的磁场信号变化。探测到的磁场信号的变化是由于机械振动造成的,因而可以高精度地测量机械微振动。