Ebert-Fastic光路与CMOS检测系统相结合的全谱交直流电弧直读光谱仪

    公开(公告)号:CN109540871A

    公开(公告)日:2019-03-29

    申请号:CN201710865771.0

    申请日:2017-09-22

    Abstract: 一种Ebert-Fastic光路与CMOS检测系统相结合的全谱交直流电弧直读光谱仪,其包括:激发光源以及激发光源之后沿光路依序设置的透镜保护片、第一透镜、光阑、第二透镜、第三透镜、入射狭缝、凹面反射镜、平面光栅、平面反光镜和光电转换装置,第一透镜和第二透镜分别由一凸透镜和一凹透镜复合组成,其中:待测的固体粉末样品置于激发光源的电极之间,激发光源激发出的特征光经过第一透镜消除色差并聚焦后,将光阑的成像经过第二透镜聚焦,之后再通过第三透镜均匀投射至入射狭缝,由入射狭缝射出的复合光经凹面反射镜反射后分解为衍射角各不相同的多路单色平行光,多路单色平行光经过平面光栅后色散为单色平行光,之后再经凹面反射镜反射后成像至光电转换装置。

    Ebert-Fastic光路与CMOS检测系统相结合的全谱交直流电弧直读光谱仪

    公开(公告)号:CN207280955U

    公开(公告)日:2018-04-27

    申请号:CN201721224453.8

    申请日:2017-09-22

    Abstract: 一种Ebert-Fastic光路与CMOS检测系统相结合的全谱交直流电弧直读光谱仪,其包括:激发光源以及激发光源之后沿光路依序设置的透镜保护片、第一透镜、光阑、第二透镜、第三透镜、入射狭缝、凹面反射镜、平面光栅、平面反光镜和光电转换装置,第一透镜和第二透镜分别由一凸透镜和一凹透镜复合组成,其中:待测的固体粉末样品置于激发光源的电极之间,激发光源激发出的特征光经过第一透镜消除色差并聚焦后,将光阑的成像经过第二透镜聚焦,之后再通过第三透镜均匀投射至入射狭缝,由入射狭缝射出的复合光经凹面反射镜反射后分解为衍射角各不相同的多路单色平行光,多路单色平行光经过平面光栅后色散为单色平行光,之后再经凹面反射镜反射后成像至光电转换装置。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

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