公开(公告)号：CN116504160B

公开(公告)日：2024-09-20

申请号：CN202310341608.X

申请日：2023-03-31

申请人： 北京八亿时空液晶科技股份有限公司

发明人： 杨雪彪 ,  张嫣然 ,  刘文平 ,  陈卯先

IPC分类号： G09G3/00 ,  G02F1/13 ,  G02F1/137

摘要： 本发明提供一种液晶面板挠曲电效应评价方法、装置、设备和存储介质，通过为液晶面板提供工作电压，使其能正常显示不同灰阶画面，打开液晶面板的TFT的开关，为Data信号线提供测量透过率所需的驱动信号，获取液晶面板的屏幕亮度数据，根据屏幕亮度数据绘制电压对透过率曲线，从电压‑透过率曲线中选取需要测量的透过率序列，测量透过率序列中各个透过率下对应的闪烁波形数据，最后对闪烁波形数据进行分析，评估其挠曲电效应强弱，通过利用闪烁测量的方法来评估挠曲电效应对液晶面板显示效果的影响，相比于传统的测量挠曲电系数的方法，测量难度更低，且测量的结果更加直观，能够更加准确的评估挠曲电效应对液晶面板显示效果的影响。

公开(公告)号：CN116504160A

公开(公告)日：2023-07-28

申请号：CN202310341608.X

申请日：2023-03-31

申请人： 北京八亿时空液晶科技股份有限公司

发明人： 杨雪彪 ,  张嫣然 ,  刘文平 ,  陈卯先

IPC分类号： G09G3/00 ,  G02F1/13 ,  G02F1/137

摘要： 本发明提供一种液晶面板挠曲电效应评价方法、装置、设备和存储介质，通过为液晶面板提供工作电压，使其能正常显示不同灰阶画面，打开液晶面板的TFT的开关，为Data信号线提供测量透过率所需的驱动信号，获取液晶面板的屏幕亮度数据，根据屏幕亮度数据绘制电压对透过率曲线，从电压‑透过率曲线中选取需要测量的透过率序列，测量透过率序列中各个透过率下对应的闪烁波形数据，最后对闪烁波形数据进行分析，评估其挠曲电效应强弱，通过利用闪烁测量的方法来评估挠曲电效应对液晶面板显示效果的影响，相比于传统的测量挠曲电系数的方法，测量难度更低，且测量的结果更加直观，能够更加准确的评估挠曲电效应对液晶面板显示效果的影响。

公开(公告)号：CN115294902A

公开(公告)日：2022-11-04

申请号：CN202210938836.0

申请日：2022-08-05

申请人： 北京八亿时空液晶科技股份有限公司

发明人： 杨雪彪 ,  刘文平 ,  陈卯先 ,  郭云鹏

IPC分类号： G09G3/00

摘要： 本发明提供一种显示面板的电压保持率的测量方法及装置，所述方法包括：根据目标测试灰阶，在显示面板的伽马曲线上确定对应的目标电压数值；根据所述目标电压数值，生成所述目标测试灰阶所对应的显示电压信号；在所述显示电压信号的驱动下，获取所述显示面板在保持阶段的亮度变化曲线；根据所述亮度变化曲线，确定所述显示面板的电压保持率。本发明可以在确定显示面板的显示电压信号后，在显示面板的保持阶段测量其亮度变化曲线，从而可以将液晶显示面板的电压保持率转换为亮度的保持程度，根据亮度变化曲线获取显示面板的电压保持率，实现了电压保持率的方便快速测量。