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公开(公告)号:CN118693486A
公开(公告)日:2024-09-24
申请号:CN202310282486.1
申请日:2023-03-21
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方传感技术有限公司 , 南京锐码毫米波太赫兹技术研究院有限公司
IPC: H01P1/18
Abstract: 本公开提供一种基于人工表面等离激元的移相器及电子设备,属于通信技术领域。本公开的基于人工表面等离激元的移相器,其包括第一介质基板、第二介质基板,设置在所述第一介质基板和所述第二介质基板之间的可调电介质层,设置在所述第一介质基板上的第一导电层,设置在所述第二介质基板上的第二导电层;所述第一导电层、所述第二导电层,以及位于二者之间的所述可调电介质层构成人工表面等离激元传输线;所述第一导电层包括第一馈线段、第二馈线段,以及连接在所述第一馈线段和所述第二馈线段之间的相位调整段;其中,所述相位调整段包括:第一主体部,以及分别连接在所述第一主体部延伸方向两侧的第一枝节和第二枝节,且所述第一枝节和所述第二枝节一一对应设置。
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公开(公告)号:CN119439063A
公开(公告)日:2025-02-14
申请号:CN202310956031.3
申请日:2023-07-31
Applicant: 北京京东方传感技术有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
Abstract: 本公开提供一种定位装置、方法及系统,属于定位技术领域。本公开的定位装置包括多个天线单元、控制器、应力传感器和温度传感器;每个天线单元包括相位调整组件和辐射组件,相位调整组件包括第一基板、第二基板及可调介质层;温度传感器被配置为检测当前外界环境温度;应力传感器被配置为检测相位调整组件的当前应力;控制器被配置为基于当前外界环境温度和相位调整组件的当前应力,对第一电极层所加载的第一偏置电压,以及第二电极层所加载的第二偏置电压进行调整。本发明根据当前外界环境的温度和相位调整组件的应力对电磁波的相位进行调整,实现低功耗定位。
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公开(公告)号:CN118572329A
公开(公告)日:2024-08-30
申请号:CN202310213902.2
申请日:2023-02-28
Applicant: 北京京东方传感技术有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种移相器和电子设备,移相器包括:移相模组,用于调节输入信号的相位;温度传感器,用于检测所述移相模组的温度和/或所述移相模组所处环境的温度;驱动模组,用于根据所述温度传感器检测到的温度向所述移相模组输入驱动电压信号,所述移相模组用于根据所述驱动电压信号输出移相量。在应用过程中,通过温度传感器可以检测所述移相模组的温度和/或所述移相模组所处环境的温度,驱动模组根据所述温度传感器检测到的温度向所述移相模组输入驱动电压信号,可以减少移相器在应用过程中温度对于移相器的输出移相量的影响,避免移相器的输出移相量由于受到温度影响导致精确度低的问题,提高移相器输出移相量的精确度。
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公开(公告)号:CN114156641B
公开(公告)日:2024-04-19
申请号:CN202010934857.6
申请日:2020-09-08
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方传感技术有限公司
Abstract: 本发明提供一种天线、天线装置、天线的制作方法和天线装置的制作方法,属于天线技术领域。本发明提供的一种天线包括第一基底,位于第一基底上的基材层;基材层中具有多个呈阵列排布的天线腔体,天线腔体的内侧具有导电层,每个天线腔体和其内侧的导电层形成一天线单元;其中,每个天线腔体包括靠近第一基底一侧的近端开口,和远离第一基底一侧的远端开口,远端开口的口径大于近端开口的口径;并且,天线腔体相对远离第一基底处的口径,不小于相对靠近第一基底处的口径。若本实施例提供的天线应用到天线装置中,能够大幅度地提高天线装置的天线效率和功率容量,实现高增益的电控波束扫描功能。
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公开(公告)号:CN117477240A
公开(公告)日:2024-01-30
申请号:CN202210856087.7
申请日:2022-07-20
Applicant: 北京京东方传感技术有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
Abstract: 本公开提供了一种天线的性能优化方法、控制方法、装置、设备及介质,应用于目标天线,所述目标天线包括多个天线单元,所述方法包括:获取目标天线对应的多个参数集合,每个参数集合包括多个天线单元各自对应的工作参数;基于多个参数集合中各个天线单元的工作参数,对目标天线进行多批次性能测试;其中,多批次性能测试的步骤包括:基于上一批次性能测试的结果,对至少一个参数集合中天线单元的工作参数进行调整;基于调整后的至少一个参数集合,进行当前批次性能测试;当多批次性能测试满足预设条件时,基于多批次性能测试的结果,确定多个天线单元的实际工作参数。
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公开(公告)号:CN117368587A
公开(公告)日:2024-01-09
申请号:CN202311606506.2
申请日:2023-11-28
Applicant: 北京京东方传感技术有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
Abstract: 本公开实施例公开一种天线测试装置及天线测试系统,涉及但不限于天线测试技术。天线测试装置包括本体机构、收容于测试空间的接收探头、固定机构、驱动组件及位移机构。固定机构能够对天线进行固定,以保证天线测试过程中天线的位置精度,保证测试结果的准确性。位移机构的设置使得接收探头能够相对天线移动,以对天线进行扫描,以在各个测试位置处采集天线辐射的射频信号。驱动组件的设置使得接收探头能够绕驱动组件旋转,使得接收探头能够在各个测试位置处均能正对于射频信号的传播方向,提升对射频信号的采集精度,以便于对天线多个方向上的性能进行测试,从而避免人工对天线和接收探头的位置进行改变,减少了对人力的消耗。
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公开(公告)号:CN116794439A
公开(公告)日:2023-09-22
申请号:CN202311027128.2
申请日:2023-08-15
Applicant: 北京京东方传感技术有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
Abstract: 本公开提供一种移相器的测试装置和测试方法,移相器包括多个移相单元,测试装置包括上位机、波控板和驱动芯片,波控板包括第一处理模块和第二处理模块;第一处理模块被配置为,响应于上位机的第一信号,根据电磁波的目标参数信息,确定每个移相单元的目标电压信息;并根据目标电压信息生成相应的驱动信号;驱动芯片被配置为,根据驱动信号为相应的移相单元提供驱动电压;第二处理模块被配置为,获取每个所述移相单元的实际工作电压信息,并响应于所述上位机的第二信号,将所述实际工作电压信息以及所述目标电压信息发送至所述上位机;上位机被配置为,根据每个移相单元的实际工作电压信息和目标电压信息,判断移相器是否出现异常。
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公开(公告)号:CN116032381A
公开(公告)日:2023-04-28
申请号:CN202111252434.7
申请日:2021-10-26
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方传感技术有限公司
Abstract: 本公开提供了一种天线测试系统及测试方法,涉及天线技术领域。该测试系统包括电压加载装置,所述电压加载装置的输出端用于与相控阵天线的输入端连接;场测试系统,所述场测试系统用于测试所述相控阵天线的天线参数;计算机设备,所述计算机设备的输出端与所述电压加载装置连接,所述计算机设备的输入端与所述场测试系统连接。本公开实时方式中,可通过该测试系统预先测试该相控阵天线在辐射波束时天线性能最接近参考天线参数时对应的目标加载电压,由于测试的目标加载电压是结合场测试系统进行实际测试得到的,从而能够保证测试的目标加载电压的精确度,进而在后续使用该相控阵天线时保证了该相控阵天线的天线性能。
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公开(公告)号:CN115128853A
公开(公告)日:2022-09-30
申请号:CN202210722188.5
申请日:2022-06-17
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方传感技术有限公司
IPC: G02F1/13
Abstract: 本申请提供一种液晶移相器的响应时间测试方法及系统、驱动方法。所述测试方法包括:确定步进相位值;根据所述步进相位值将预设相位区间等间隔划分得到多个测试相位;基于预先建立的所述液晶移相器的驱动电压与相位之间的映射关系,根据所述多个测试相位确定多个第一测试电压;利用所述多个第一测试电压驱动所述液晶移相器,并采集得到所述多个第一测试电压对应的所述液晶移相器的多个响应时间;基于所述多个第一测试电压以及所述多个响应时间,创建响应时间表用以驱动所述液晶移相器。本申请的方案,通过微波指标来评估液晶移相器不同相位状态的响应速度,在微波领域具有说服力,并且可以依据测试结果而灵活选择液晶移相器的加速策略。
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公开(公告)号:CN119518296A
公开(公告)日:2025-02-25
申请号:CN202311081087.5
申请日:2023-08-25
Applicant: 北京京东方传感技术有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方技术开发有限公司
Abstract: 本发明公开了一种天线的相位调整方法、装置、设备及介质,应用于天线技术领域。天线的相位调整方法包括:生成初始种群集合,种群集合中的每个个体的位置矩阵与天线阵列中的天线一一对应,位置矩阵中一个位置的数值为个体中的一个基因的数值,基因与天线中的天线单元一一对应;根据粒子群算法和遗传算法对初始种群集合进行迭代运算,得到种群集合中最优个体的位置矩阵;根据最优个体的位置矩阵,调整天线的相位。通过本发明的方案,解决了关于天线校准的相关技术中,天线校准困难、准确性低、比较耗时等问题,减少了天线校准的时间开销,提升了天线校准的准确度和天线性能。
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