一种定位装置、方法及系统
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119439063A

    公开(公告)日:2025-02-14

    申请号:CN202310956031.3

    申请日:2023-07-31

    Abstract: 本公开提供一种定位装置、方法及系统,属于定位技术领域。本公开的定位装置包括多个天线单元、控制器、应力传感器和温度传感器;每个天线单元包括相位调整组件和辐射组件,相位调整组件包括第一基板、第二基板及可调介质层;温度传感器被配置为检测当前外界环境温度;应力传感器被配置为检测相位调整组件的当前应力;控制器被配置为基于当前外界环境温度和相位调整组件的当前应力,对第一电极层所加载的第一偏置电压,以及第二电极层所加载的第二偏置电压进行调整。本发明根据当前外界环境的温度和相位调整组件的应力对电磁波的相位进行调整,实现低功耗定位。

    移相器和电子设备
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118572329A

    公开(公告)日:2024-08-30

    申请号:CN202310213902.2

    申请日:2023-02-28

    Abstract: 本发明公开了一种移相器和电子设备,移相器包括:移相模组,用于调节输入信号的相位;温度传感器,用于检测所述移相模组的温度和/或所述移相模组所处环境的温度;驱动模组,用于根据所述温度传感器检测到的温度向所述移相模组输入驱动电压信号,所述移相模组用于根据所述驱动电压信号输出移相量。在应用过程中,通过温度传感器可以检测所述移相模组的温度和/或所述移相模组所处环境的温度,驱动模组根据所述温度传感器检测到的温度向所述移相模组输入驱动电压信号,可以减少移相器在应用过程中温度对于移相器的输出移相量的影响,避免移相器的输出移相量由于受到温度影响导致精确度低的问题,提高移相器输出移相量的精确度。

    天线测试装置及天线测试系统
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117368587A

    公开(公告)日:2024-01-09

    申请号:CN202311606506.2

    申请日:2023-11-28

    Abstract: 本公开实施例公开一种天线测试装置及天线测试系统,涉及但不限于天线测试技术。天线测试装置包括本体机构、收容于测试空间的接收探头、固定机构、驱动组件及位移机构。固定机构能够对天线进行固定,以保证天线测试过程中天线的位置精度,保证测试结果的准确性。位移机构的设置使得接收探头能够相对天线移动,以对天线进行扫描,以在各个测试位置处采集天线辐射的射频信号。驱动组件的设置使得接收探头能够绕驱动组件旋转,使得接收探头能够在各个测试位置处均能正对于射频信号的传播方向,提升对射频信号的采集精度,以便于对天线多个方向上的性能进行测试,从而避免人工对天线和接收探头的位置进行改变,减少了对人力的消耗。

    一种移相器的测试装置和测试方法

    公开(公告)号:CN116794439A

    公开(公告)日:2023-09-22

    申请号:CN202311027128.2

    申请日:2023-08-15

    Abstract: 本公开提供一种移相器的测试装置和测试方法,移相器包括多个移相单元,测试装置包括上位机、波控板和驱动芯片,波控板包括第一处理模块和第二处理模块;第一处理模块被配置为,响应于上位机的第一信号,根据电磁波的目标参数信息,确定每个移相单元的目标电压信息;并根据目标电压信息生成相应的驱动信号;驱动芯片被配置为,根据驱动信号为相应的移相单元提供驱动电压;第二处理模块被配置为,获取每个所述移相单元的实际工作电压信息,并响应于所述上位机的第二信号,将所述实际工作电压信息以及所述目标电压信息发送至所述上位机;上位机被配置为,根据每个移相单元的实际工作电压信息和目标电压信息,判断移相器是否出现异常。

    液晶移相器的响应时间测试方法及系统、驱动方法

    公开(公告)号:CN115128853A

    公开(公告)日:2022-09-30

    申请号:CN202210722188.5

    申请日:2022-06-17

    Abstract: 本申请提供一种液晶移相器的响应时间测试方法及系统、驱动方法。所述测试方法包括:确定步进相位值;根据所述步进相位值将预设相位区间等间隔划分得到多个测试相位;基于预先建立的所述液晶移相器的驱动电压与相位之间的映射关系,根据所述多个测试相位确定多个第一测试电压;利用所述多个第一测试电压驱动所述液晶移相器,并采集得到所述多个第一测试电压对应的所述液晶移相器的多个响应时间;基于所述多个第一测试电压以及所述多个响应时间,创建响应时间表用以驱动所述液晶移相器。本申请的方案,通过微波指标来评估液晶移相器不同相位状态的响应速度,在微波领域具有说服力,并且可以依据测试结果而灵活选择液晶移相器的加速策略。

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