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公开(公告)号:CN102592014B
公开(公告)日:2014-01-29
申请号:CN201110459200.X
申请日:2011-12-31
Applicant: 北京交通大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 一种有机薄膜晶体管电流-电压仿真模型的参数提取方法,涉及有机半导体集成电路领域器件模型的参数提取技术,提供了一种有机薄膜晶体管直流电流-电压特性模型的参数提取方法,主要包括以下步骤:1)利用有机薄膜晶体管的直流电流-电压特性模型来准确描述其直流电流-电压特性;2)确定有机薄膜晶体管的直流电流-电压特性模型中需要提取的参数:阈值电压VT,载流子迁移率幂律参数γa,场效应迁移率的特征电压Vaa,迁移率的饱和调制参数αsat,弯曲调制参数m,沟道长度调制参数λ,泄漏电流参数SIGMAA0;3)逐个确定各个参数的提取方法。利用有机薄膜晶体管的直流电流-电压特性模型的参数提取方法准确描述有机薄膜晶体管的电流-电压特性。
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公开(公告)号:CN102592014A
公开(公告)日:2012-07-18
申请号:CN201110459200.X
申请日:2011-12-31
Applicant: 北京交通大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 一种有机薄膜晶体管电流-电压仿真模型的参数提取方法,涉及有机半导体集成电路领域器件模型的参数提取技术,提供了一种有机薄膜晶体管直流电流-电压特性模型的参数提取方法,主要包括以下步骤:1)利用有机薄膜晶体管的直流电流-电压特性模型来准确描述其直流电流-电压特性;2)确定有机薄膜晶体管的直流电流-电压特性模型中需要提取的参数:阈值电压VT,载流子迁移率幂律参数γa,场效应迁移率的特征电压Vaa,迁移率的饱和调制参数αsat,弯曲调制参数m,沟道长度调制参数λ,泄漏电流参数SIGMAA0;3)逐个确定各个参数的提取方法。利用有机薄膜晶体管的直流电流-电压特性模型的参数提取方法准确描述有机薄膜晶体管的电流-电压特性。
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公开(公告)号:CN102544369A
公开(公告)日:2012-07-04
申请号:CN201110447806.1
申请日:2011-12-28
Applicant: 北京交通大学
Abstract: 一种复合结构的有机薄膜晶体管,涉及一种电子元器,适用于显示器、传感器和无线射频识别标签等技术领域。提高解决了有机薄膜晶体管的性能。该有机薄膜晶体管包括:基底(101)、底栅电极(102)、底栅绝缘层(103)、源电极(104)、漏电极(105)、有机半导体层(106);在基底(101)上依次为底栅电极(102)、底栅绝缘层(103)、源电极(104)、漏电极(105)、有机半导体层(106)或基底(101)采用重掺杂N++硅片,兼作底栅电极(102);在所述的有机半导体层(106)上制作顶栅绝缘层(107)、顶栅电极(108)。
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