薄膜材料线膨胀系数的间接测量方法

    公开(公告)号:CN1584570A

    公开(公告)日:2005-02-23

    申请号:CN200410042675.9

    申请日:2004-06-01

    Abstract: 一种薄膜材料线膨胀系数的间接测量方法,其步骤:①要求测试系统的下夹具(2)、上夹具(5)、反向支撑杆(3)和反向联结杆(8)四个部件选用同一种材料(不锈钢材料)。②在测量前对测试系统进行标定,标定样品必须与上述四个部件材料相同。③测量系统标定后,在室温下将被测薄膜样品(4)固定在上夹具(5)和下夹具(2)上,再安装到试验机(1)上,拉伸到样品破坏载荷的5%左右,记录下样品的应力值和环境温度。④进行温控实验,记录下不同时刻的应力和温度值。⑤利用α1=σi+1-σi/E(Ti-Ti-1)公式计算被测薄膜样品(4)在任意温度区间的线膨胀系数。⑥根据计算结果得到被测薄膜样品(4)从T0至Tn整个温度区内的线膨胀系数。本发明原理简单,测量方便,可在不同温区对薄膜材料的线膨胀系数进行测量。

    薄膜材料线膨胀系数的间接测量方法

    公开(公告)号:CN1270177C

    公开(公告)日:2006-08-16

    申请号:CN200410042675.9

    申请日:2004-06-01

    Abstract: 一种薄膜材料线膨胀系数的间接测量方法,其步骤:①要求测试系统的下夹具(2)、上夹具(5)、反向支撑杆(3)和反向联结杆(8)四个部件选用同一种材料(不锈钢材料)。②在测量前对测试系统进行标定,标定样品必须与上述四个部件材料相同。③测量系统标定后,在室温下将被测薄膜样品(4)固定在上夹具(5)和下夹具(2)上,再安装到试验机(1)上,拉伸到样品破坏载荷的5%左右,记录下样品的应力值和环境温度。④进行温控实验,记录下不同时刻的应力和温度值。⑤利用αi=σi+1-σ1/E(Ti-Ti-1)公式计算被测薄膜样品(4)在任意温度区间的线膨胀系数。⑥根据计算结果得到被测薄膜样品(4)从T0至Tn整个温度区内的线膨胀系数。本发明原理简单,测量方便,可在不同温区对薄膜材料的线膨胀系数进行测量。

    薄膜样品低温拉伸夹具
    3.
    实用新型

    公开(公告)号:CN2694256Y

    公开(公告)日:2005-04-20

    申请号:CN200420049791.9

    申请日:2004-04-30

    Abstract: 一种薄膜样品低温拉伸夹具,该夹具包括:力传感器(4)、联接杆(5)、上夹具底座(6)、法兰(7)、支撑杆(8)、夹口(10)、磁铁(11)、下夹具底座(12)。下夹具底座(12)通过支撑杆(8)与法兰(7)螺纹连接;联结杆(5)与传感器(4)螺纹连接,并穿过法兰(7)的中孔与上夹具底座(6)螺纹连接;下夹具底座(12)、上夹具底座(6)和夹口(10)为梯形结构,每个夹口(10)内置一块磁铁(11),两对夹口对称布置在下夹具底座(12)和上夹具底座(6)的梯形槽中;法兰7与低温环境箱13用螺栓联结。该夹具具有:夹持方法可靠、结构简单小巧,为实验力学和薄膜测试技术的发展提供了试验条件。

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