Patent search ap:("北京中唐电工程咨询有限公司") AND inv:"杨万平" Page 1

1.

发明公开
无损检测传感器及无损检测系统审中-实审

公开(公告)号：CN116818882A

公开(公告)日：2023-09-29

申请号：CN202310807172.9

申请日：2023-07-03

Applicant: 北京中唐电工程咨询有限公司

Inventor： 韩振华 , 李亚冬 , 胡振江 , 张长虎 , 张皙 , 庄涛 , 李冲 , 崔忠帆 , 杨万平

IPC: G01N27/83

Abstract: 本发明公开了一种无损检测传感器及无损检测系统。无损检测传感器中的磁轭包括基底、第一磁桥和第二磁桥，基底分别与第一磁桥和第二磁桥连接；基底的第一端部、第一永磁体、第一极靴依次接触，基底的第二端部、第二永磁体、第二极靴依次接触；第一磁桥和第二磁桥位于基底的第一端部和第二端部之间；至少一个第一磁敏元件设置于第一磁桥和第二磁桥之间，至少一个第二磁敏元件设置于第一磁桥的下方，至少一个第三磁敏元件设置于第二磁桥的下方。通过设置第一磁敏元件、第二磁敏元件和第三磁敏元件可以实现裂纹缺陷的交叉互检，提高检测准确率和检测效率。

Patent Agency Ranking