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公开(公告)号：CN117630048A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311635575.6
申请日：2023-12-01
Applicant: 兰州大学
IPC: G01N22/00
Abstract: 本发明公开基于微波法实现波矢分辨的自旋波色散谱测试方法及系统，涉及自旋波探测技术领域。微波源模块向待测样品发射不同频率的微波；匀强磁场模块向所述待测样品提供不同磁场强度的匀强磁场；待测样品在匀强磁场和微波激励下产生自旋波共振；在自旋波共振的作用下微波的幅值产生变化，二极管功率检波器将变化的微波信号转换为第一电压信号；锁相放大器模块采集第一电压信号；数据处理模块对电磁波频率、匀强磁场强度、第一电压信号进行三维画图处理得到自旋波色散关系图，进一步得到不同磁场下面内驻波随波矢的变化数据。本发明首次实现了基于微波法的具有波矢分辨的自旋波色散谱测试方法，提高了自旋波色散谱波矢分辨效率和准确性。
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公开(公告)号：CN113933320A
公开(公告)日：2022-01-14
申请号：CN202110980045.X
申请日：2021-08-25
Applicant: 兰州大学
IPC: G01N22/00
Abstract: 本发明公开了一种材料吸波特性的单端测试法，包括样品腔、微波传输棒、弹簧针、SMA接头和矢量网络分析仪，样品腔的其中一端设置有测试夹具；微波传输棒设置在样品腔的内部，且和测试夹具穿插连接；弹簧针设置在微波传输棒内；SMA接头设置在样品腔的另一端；矢量网络分析仪的接收端电性连接有同轴电缆，同轴电缆的另一端和SMA接头的另一端电性连接。本发明的有益效果是：本发明利用单端法来进行材料的吸波特性测试，单端法可以直观地通过矢量网络分析仪测试S11而得到材料的吸波特性，同时不需要重新搭建测试设备、不需要搭建暗室，也不需要搭建弓形测试设备，本测试方法可以作为弓形法的另一种补充测试方法或者两者来互相验证。
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公开(公告)号：CN103744039A
公开(公告)日：2014-04-23
申请号：CN201410012235.2
申请日：2014-01-10
Applicant: 兰州大学
IPC: G01R33/12
Abstract: 一种软磁薄膜复数磁导率的计算分析方法，其过程为：1）测量空腔短路微带线夹具的S11参数、外加了强磁场时的空腔短路微带线夹具的S11参数、放入软磁薄膜样品时的短路微带线夹具的S11参数、外加了强磁场并且放入软磁薄膜样品时的短路微带线夹具的S11参数；2）通过S11参数求得端口阻抗；3）将得到的端口阻抗的数据带入本发明提出的计算公式中便可以得到软磁薄膜的复数磁导率。在利用本发明提出的方法计算复数磁导率时，只需要知道软磁薄膜的厚度和长度，而不需要其他标准样品来定标。
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公开(公告)号：CN117630777A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311696666.0
申请日：2023-12-12
Applicant: 兰州大学
IPC: G01R33/12
Abstract: 本发明公开了一种基于近场微波探头的磁谱测试装置及方法，涉及近场微波测试领域，该装置包括：依次连接的近场微波探头、矢量网络分析仪和控制系统；近场微波探头包括：信号端和接地端短路连接的微波探针；近场微波探头与待测样品之间的距离为第一设定距离；近场微波探头与矢量网络分析仪相连接形成一个阻抗回路；当测试待测样品时，该阻抗回路的阻值发生变化，进而引起矢量网络分析仪散射参数的变化；矢量网络分析仪用于接收四种状态下近场微波探头探测的反射信号，根据四种状态下的反射信号得到四种状态下的散射参数，进而确定待测样品的磁谱。本发明无需限制待测样品的尺寸，适应范围更广。
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公开(公告)号：CN110554058B
公开(公告)日：2022-02-08
申请号：CN201910834059.3
申请日：2019-09-04
Applicant: 兰州大学
Abstract: 本发明公开了一种微波探测元件，是由包括依次层叠设置的片状钉扎层、绝缘层、自由层和重金属层构成，其上层的磁性钉扎层为环形，自由层、绝缘层和重金属层的形状设置为圆形。其中：重金属层材料与自由层材料间可产生Dzyaloshinskii–Moriya相互作用，所述的钉扎层中磁矩沿垂直方向排布，且由于Dzyaloshinskii–Moriya相互作用使得自由层中磁矩排布为磁斯格明子态。本发明的微波探测元件，当输入一个微波电流信号时，磁斯格明子的尺寸会周期性变化，由于隧道磁电阻效应存在，会使元件的电阻值也产生周期性的变化，其与输入的微波电流耦合会产生一个直流信号，从而实现微波探测。本发明可以使灵敏度值有较大提升。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN103744039B
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201410012235.2
申请日：2014-01-10
Applicant: 兰州大学
IPC: G01R33/12
Abstract: 一种软磁薄膜复数磁导率的计算分析方法，其过程为：1）测量空腔短路微带线夹具的S11参数、外加了强磁场时的空腔短路微带线夹具的S11参数、放入软磁薄膜样品时的短路微带线夹具的S11参数、外加了强磁场并且放入软磁薄膜样品时的短路微带线夹具的S11参数；2）通过S11参数求得端口阻抗；3）将得到的端口阻抗的数据带入本发明提出的计算公式中便可以得到软磁薄膜的复数磁导率。在利用本发明提出的方法计算复数磁导率时，只需要知道软磁薄膜的厚度和长度，而不需要其他标准样品来定标。
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公开(公告)号：CN103107282B
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201310045335.0
申请日：2013-02-05
Applicant: 兰州大学
Abstract: 本发明公开一种提高由其表面附着有软磁薄膜的导电金属构成的复合材料的巨磁阻抗效应的方法。本发明的方法是在金属丝上施加拉应力。本发明的方法非常简单，但却可以显著提高丝状复合材料的巨阻抗特性，且随着所施加的拉应力的增加，复合结构的低频特性更加明显，巨磁阻抗率的改变率愈大。实验表明，只有对受度材料施加很少的拉应力，即可有阻抗的改变，特别是在拉应力载荷卸除后，材料仍能保持因拉应力而产生的巨磁阻抗率改变效应。
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公开(公告)号：CN110554058A
公开(公告)日：2019-12-10
申请号：CN201910834059.3
申请日：2019-09-04
Applicant: 兰州大学
Abstract: 本发明公开了一种微波探测元件，是由包括依次层叠设置的片状钉扎层、绝缘层、自由层和重金属层构成，其上层的磁性钉扎层为环形，自由层、绝缘层和重金属层的形状设置为圆形。其中：重金属层材料与自由层材料间可产生Dzyaloshinskii–Moriya相互作用，所述的钉扎层中磁矩沿垂直方向排布，且由于Dzyaloshinskii–Moriya相互作用使得自由层中磁矩排布为磁斯格明子态。本发明的微波探测元件，当输入一个微波电流信号时，磁斯格明子的尺寸会周期性变化，由于隧道磁电阻效应存在，会使元件的电阻值也产生周期性的变化，其与输入的微波电流耦合会产生一个直流信号，从而实现微波探测。本发明可以使灵敏度值有较大提升。
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