光学扫描装置和图像形成装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110850590A

    公开(公告)日:2020-02-28

    申请号:CN201910772036.4

    申请日:2019-08-20

    Abstract: 本发明涉及光学扫描装置和图像形成装置。根据本发明的光学扫描装置包括:偏转单元,被配置为通过偏转在副扫描截面中相对于主扫描截面以不同角度入射在第一偏转表面上的第一光束和第二光束,在主扫描方向上扫描第一被扫描表面和第二被扫描表面;以及第一光学元件,包括第一光学部分和第二光学部分,其被配置为将由偏转单元偏转的第一光束和第二光束分别引导到第一被扫描表面和第二被扫描表面。第一光学元件的入射表面在包括该入射表面上的表面顶点的副扫描截面中在该表面顶点的位置处朝向偏转单元最突出。第一光学部分的第一出射表面和第二光学部分的第二出射表面中的至少一个是弧矢倾斜表面。在包括轴上光线的入射位置的副扫描截面中的第一出射表面上的表面顶点与第二出射表面上的表面顶点之间的距离大于在包括最外侧轴外光线的入射位置的副扫描截面中的第一出射表面上的表面顶点与第二出射表面上的表面顶点之间的距离。

    光学扫描装置和图像形成装置

    公开(公告)号:CN110850589B

    公开(公告)日:2022-06-14

    申请号:CN201910751276.6

    申请日:2019-08-15

    Abstract: 本公开涉及光学扫描装置和图像形成装置。光学扫描装置包括:第一偏转单元和第二偏转单元,以及将由第一偏转单元和第二偏转单元偏转的第一光束和第二光束引导到第一扫描表面和第二扫描表面的第一成像光学系统和第二成像光学系统。第一成像光学系统和第二成像光学系统包括在副扫描截面中具有最大折光力的第一成像元件和第二成像元件。光路上第一偏转单元和第一成像元件之间的距离短于光路上第二偏转单元和第二成像元件之间的距离。光学扫描装置满足:其中N1、d1、φ1和φ11是第一成像元件的折射率、光轴上的厚度、副扫描截面中的折光力以及入射表面的副扫描截面中的折光力,并且N2、d2、φ2和φ21是第二成像元件的等同物。

    光扫描装置和图像形成装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119717258A

    公开(公告)日:2025-03-28

    申请号:CN202411332481.6

    申请日:2024-09-24

    Abstract: 公开了光扫描装置和图像形成装置。提供了一种光扫描装置,所述光扫描装置包括:偏转单元,所述偏转单元被配置为使来自第一光源的光束偏转,以在主扫描方向上扫描第一被扫描表面;第一成像光学系统和反射元件,所述第一成像光学系统和所述反射元件被配置为将由所述偏转单元偏转的所述第一光束引导到所述第一被扫描表面;光学元件,所述光学元件被配置为将从所述第一光源发射的所述第一光束引导到所述偏转单元;以及保持构件,所述保持构件被配置为保持所述偏转单元、所述第一成像光学系统、所述反射元件、以及所述光学元件,其中,所述光学元件和所述反射元件邻靠所述保持构件。

    光扫描装置
    5.
    发明公开
    光扫描装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN117706887A

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202311155580.7

    申请日:2023-09-08

    Abstract: 本发明涉及光扫描装置。根据本发明的光扫描装置包括:偏转单元,被配置为偏转第一光束和第二光束以在主扫描方向上扫描第一被扫描表面和第二被扫描表面;以及第一成像光学系统和第二成像光学系统,被配置为将偏转单元偏转的第一光束和第二光束引导到第一被扫描表面和第二被扫描表面。第一成像光学系统包括第一成像光学元件、以及在第一成像光学系统的光路上布置在第一成像光学元件与第一被扫描表面之间的第二成像光学元件。第二成像光学系统包括第三成像光学元件。光扫描装置满足以下条件:φ1≠φ3,φ2/φ1≤1,其中,φ1、φ2以及φ3分别表示第一成像光学元件、第二成像光学元件以及第三成像光学元件的副扫描横截面中的光焦度。

    光检测装置和光扫描装置

    公开(公告)号:CN114296227B

    公开(公告)日:2024-02-13

    申请号:CN202111169287.7

    申请日:2021-10-08

    Inventor: 寺村昌泰

    Abstract: 公开了光检测装置和光扫描装置。根据本发明的光检测装置包括:反射元件,具有第一反射面、第二反射面和第三反射面;以及光接收元件,被配置为接收由反射元件反射的来自光源的光束。当用S表示第一反射面的单位法向量与第二反射面的单位法向量的内积的值,用T表示第一反射面的单位法向量与第三反射面的单位法向量的内积的值,并且用U表示第二反射面的单位法向量与第三反射面的单位法向量的内积的值时,适当地设定值S、T和U中的每个。

    光学扫描装置和图像形成装置

    公开(公告)号:CN110850589A

    公开(公告)日:2020-02-28

    申请号:CN201910751276.6

    申请日:2019-08-15

    Abstract: 本公开涉及光学扫描装置和图像形成装置。光学扫描装置包括:第一偏转单元和第二偏转单元,以及将由第一偏转单元和第二偏转单元偏转的第一光束和第二光束引导到第一扫描表面和第二扫描表面的第一成像光学系统和第二成像光学系统。第一成像光学系统和第二成像光学系统包括在副扫描截面中具有最大折光力的第一成像元件和第二成像元件。光路上第一偏转单元和第一成像元件之间的距离短于光路上第二偏转单元和第二成像元件之间的距离。光学扫描装置满足: 其中N1、d1、φ1和φ11是第一成像元件的折射率、光轴上的厚度、副扫描截面中的折光力以及入射表面的副扫描截面中的折光力,并且N2、d2、φ2和φ21是第二成像元件的等同物。

    扫描光学装置和利用扫描光学装置的图像形成设备

    公开(公告)号:CN101726850A

    公开(公告)日:2010-06-09

    申请号:CN200910206350.2

    申请日:2009-10-15

    Inventor: 寺村昌泰

    CPC classification number: G02B26/127 G02B7/34 G02B7/346 G02B26/128

    Abstract: 一种扫描光学系统和利用扫描光学装置的图像形成设备,其中,基于关于通过了树脂制成的成像光学元件并且由光检测装置检测到的多个光束的主扫描方向上的成像位置之间的间隔、以及所述多个光束的副扫描方向上的成像位置之间的间隔的位置信息,确定主扫描方向上的焦点偏移方向和焦点偏移量以及副扫描方向上的焦点偏移方向和焦点偏移量,其中,基于所述确定,输入光学系统的光学元件在光轴方向上移动,以校正主扫描方向上的焦点偏移和副扫描方向上的焦点偏移。

    光检测装置和光扫描装置

    公开(公告)号:CN114296227A

    公开(公告)日:2022-04-08

    申请号:CN202111169287.7

    申请日:2021-10-08

    Inventor: 寺村昌泰

    Abstract: 公开了光检测装置和光扫描装置。根据本发明的光检测装置包括:反射元件,具有第一反射面、第二反射面和第三反射面;以及光接收元件,被配置为接收由反射元件反射的来自光源的光束。当用S表示第一反射面的单位法向量与第二反射面的单位法向量的内积的值,用T表示第一反射面的单位法向量与第三反射面的单位法向量的内积的值,并且用U表示第二反射面的单位法向量与第三反射面的单位法向量的内积的值时,适当地设定值S、T和U中的每个。

Patent Agency Ranking