自动分析装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110702767B

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN201910633550.X

    申请日:2019-07-09

    Inventor: 金原健

    Abstract: 提供能够计算出样本中是否包含使分析数据恶化的特定的成分的自动分析装置。实施方式的自动分析装置,通过使包含样本的溶液及校正液分别与离子选择性电极接触,从而测定溶液中包含的特定离子的浓度,在自动分析装置中,具备:检测部,在溶液的测定及校正液的测定的每个测定中,检测与离子选择性电极有关的输出;及处理部,基于在溶液的测定后实施的校正液的测定中由检测部检测到的输出值的时序性的推移,输出与溶液中的特定离子以外的离子的有无或浓度有关的信息。

    自动分析装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110702767A

    公开(公告)日:2020-01-17

    申请号:CN201910633550.X

    申请日:2019-07-09

    Inventor: 金原健

    Abstract: 提供能够计算出样本中是否包含使分析数据恶化的特定的成分的自动分析装置。实施方式的自动分析装置,通过使包含样本的溶液及校正液分别与离子选择性电极接触,从而测定溶液中包含的特定离子的浓度,在自动分析装置中,具备:检测部,在溶液的测定及校正液的测定的每个测定中,检测与离子选择性电极有关的输出;及处理部,基于在溶液的测定后实施的校正液的测定中由检测部检测到的输出值的时序性的推移,输出与溶液中的特定离子以外的离子的有无或浓度有关的信息。

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