公开(公告)号：CN118348377A

公开(公告)日：2024-07-16

申请号：CN202410463076.1

申请日：2024-04-17

申请人： 佛山职业技术学院

发明人： 李成瑶 ,  余颖舜 ,  胡锦华 ,  陈文志 ,  陈尧彤 ,  陈东杰

IPC分类号： G01R31/26 ,  G01R1/28 ,  G01R19/00 ,  G01R13/00

摘要： 本发明公开了一种半导体器件测试电路、PCB板及测试装置，包括第一可调驱动单元、第二可调驱动单元、示波单元、模式调节单元、可调输出限流单元和负载单元，第一可调驱动单元的输出端与基准陪测器件的驱动端连接，第二可调驱动单元的输出端与测试器件的驱动端连接，示波单元分别与基准陪测器件和测试器件的输出端连接，基准陪测器件的输出端和测试器件的输出端均通过模式调节单元与可调输出限流单元的输入端连接，可调输出限流单元的输出端与负载单元连接；利用可调输出限流单元对测试器件的输出电流进行检测，若输出电流大于预设最大输出电流时，则可能存在器件失效的问题，此时，可调输出限流单元则会关断，从而对测试电路和测试器件进行保护。