基于多标签分类的缺陷检测方法、系统、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN118115460A

    公开(公告)日:2024-05-31

    申请号:CN202410243687.5

    申请日:2024-03-04

    Abstract: 基于多标签分类的缺陷检测方法、系统、设备及存储介质,涉及缺陷检测技术领域。缺陷检测方法包括如下步骤:获取待检测图片;建立与待检测图片对应的数据集合,所述数据集合的子集数量与缺陷标签数量一致,且数据集合的子集与缺陷标签一一对应;初始的数据集合中,各个子集的值均为零;向训练好的缺陷检测模型输入待检测图片,获得缺陷检测模型输出的若干缺陷标签;根据输出的缺陷标签对数据集合中对应的子集进行赋值;对当前数据集合中的子集进行求和,得到数据集合的缺陷总分;根据缺陷总分进行等级分类。实现整合所有识别出的缺陷标签进行评分分类,以便于对产品进行质量等级的分类。

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