公开(公告)号：CN103562705A

公开(公告)日：2014-02-05

申请号：CN201280022717.5

申请日：2012-05-09

Applicant: 住友电气工业株式会社 ,  国立大学法人京都大学

Inventor： 中路晴雄 ,  福山秀直 ,  矶祐介 ,  浦山慎一 ,  大石直也 ,  藤原宏志

IPC: G01N21/17 ,  A61B10/00

CPC classification number: A61B5/0073 ,  A61B10/0041 ,  G01B9/02091 ,  G01N21/4795

Abstract: 提供一种可更高精度获得测定对象的断层信息的光学层析成像装置（1）。根据光学层析成像装置（1），受光光纤（12）、（13）的数值孔径彼此不同。因而，通过构成为分别在受光光纤（12）、（13）中接收两种立体角分布不同的光，从而除了从测定对象（100）射出的光的强度信息外，还能够获得角度信息。其结果，能够提高与测定对象的断层信息相关的解析精度。

公开(公告)号：CN103562705B

公开(公告)日：2016-10-12

申请号：CN201280022717.5

申请日：2012-05-09

Applicant: 住友电气工业株式会社 ,  国立大学法人京都大学

Inventor： 中路晴雄 ,  福山秀直 ,  矶祐介 ,  浦山慎一 ,  大石直也 ,  藤原宏志

IPC: G01N21/17 ,  A61B10/00

CPC classification number: A61B5/0073 ,  A61B10/0041 ,  G01B9/02091 ,  G01N21/4795

Abstract: 提供一种可更高精度获得测定对象的断层信息的光学层析成像装置（1）。根据光学层析成像装置（1），受光光纤（12）、（13）的数值孔径彼此不同。因而，通过构成为分别在受光光纤（12）、（13）中接收两种立体角分布不同的光，从而除了从测定对象（100）射出的光的强度信息外，还能够获得角度信息。其结果，能够提高与测定对象的断层信息相关的解析精度。