公开(公告)号：CN119678021A

公开(公告)日：2025-03-21

申请号：CN202380058456.0

申请日：2023-09-25

Applicant: 住友理工株式会社

Inventor： 柴田哲好 ,  那须将树 ,  前田拓磨 ,  吴辰光 ,  黄田尚宏 ,  奥村刚正

IPC: G01L1/14

Abstract: 一种接触检测装置(10)，其具备静电型传感器(7)、第一桥接用电容器(12)、充电放电用开关元件(13)、控制装置(14)、测量器(15)，静电型传感器(7)构成为静电电容根据导体(51、52)接触到的面积以及与导体的距离的至少一方而发生变化，且构成为时间常数(τ)通过与距第一测量位置(29)的距离相应的电阻而发生变化，测量器(15)基于充电的步骤中的在第一采样时间点(ST1)下获取到的第一电位(V1)即第一电位第一采样值(V11)、在从第一采样时间点(ST1)经过预定时间后的第二采样时间点(ST2)下获取到的第一电位(V1)即第一电位第二采样值(V12)，检测导体(51、52)接触到静电型传感器(7)的位置。

公开(公告)号：CN119678023A

公开(公告)日：2025-03-21

申请号：CN202380059037.9

申请日：2023-09-19

Applicant: 住友理工株式会社

Inventor： 吉田知司 ,  杉山孝美 ,  纲木一良 ,  前田拓磨

IPC: G01L1/14 ,  B62D1/06

Abstract: 一种接触检测装置(10)，其具备静电型传感器(7)、和检测导体是否与多个检测区域(LF、RF、LB、RB)接触的判定处理器(30)，其中，判定处理器(30)具备存储部(31)、判定用基准值设定部(32)和判定处理部(33)，判定用基准值设定部(32)将静电电容相当值与设定用基准值(41)之间的差值超过阈值(43)的检测区域判断为导体接触的接触区域，将静电电容相当值与设定用基准值(41)之间的差值为阈值(43)以下的检测区域判断为导体未接触的非接触区域，在判断为存在接触区域，且判断为存在非接触区域时，针对接触区域，将与非接触区域对应的设定用基准值(41)设定为接触区域的判定用基准值(42)。

公开(公告)号：CN119678022A

公开(公告)日：2025-03-21

申请号：CN202380058702.2

申请日：2023-09-19

Applicant: 住友理工株式会社

Inventor： 杉山孝美 ,  吉田知司 ,  纲木一良 ,  前田拓磨

IPC: G01L1/14 ,  B62D1/06

Abstract: 一种接触检测装置(10)，交流电源(11)将频率不同的第一交流电压与第二交流电压进行切换而施加至第一电极层(22)及第二电极层(23)，接触检测装置(10)具备：存储部(34)，其保存与导体接触到静电型传感器(7)的状态对应的代替正交相位分量(QA)；正交相位分量比较部(31)，其对在第一交流电压施加至第二电极层(23)时提取出的第一正交相位分量(Q1)、以及在第二交流电压施加至第二电极层(23)时提取出的第二正交相位分量(Q2)进行比较；以及接触判定部(33)，其在第一正交相位分量(Q1)与第二正交相位分量(Q2)处于第一正交相位误差(ΔQE1)的范围内的情况下，基于第一正交相位分量(Q1)而检测导体的接触，在第一正交相位分量(Q1)与第二正交相位分量(Q2)处于第一正交相位误差(ΔQE1)的范围外的情况下，基于代替正交相位分量(QA)而检测导体的接触。