光学检验系统
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101153854A

    公开(公告)日:2008-04-02

    申请号:CN200710153935.3

    申请日:2007-09-14

    摘要: 本发明提供一种用于电路装置的光学检验系统,包含:光学检验功能,其提供在所检验电路装置上至少一区域的光学检验输出;算法检验功能,其提供所述至少一区域的算法检验输出,所述算法检验输出指示在所述至少一区域处存在可能的缺陷;显示器,其根据所述光学检验输出向操作员提供所述至少一区域的视觉感应显示;以及显示控制器,其可相应指示在所述至少一区域处未识别出一缺陷的所检测操作员行为、以及相应指示在所述至少一区域处存在可能缺陷的所述算法检验输出,以提供在所述所检测操作员行为与所述至少一区域的所述算法检验输出间存在不一致性的指示。

    光学检验系统
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101153854B

    公开(公告)日:2015-08-19

    申请号:CN200710153935.3

    申请日:2007-09-14

    摘要: 本发明提供一种用于电路装置的光学检验系统,包含:光学检验功能,其提供在所检验电路装置上至少一区域的光学检验输出;算法检验功能,其提供所述至少一区域的算法检验输出,所述算法检验输出指示在所述至少一区域处存在可能的缺陷;显示器,其根据所述光学检验输出向操作员提供所述至少一区域的视觉感应显示;以及显示控制器,其可相应指示在所述至少一区域处未识别出一缺陷的所检测操作员行为、以及相应指示在所述至少一区域处存在可能缺陷的所述算法检验输出,以提供在所述所检测操作员行为与所述至少一区域的所述算法检验输出间存在不一致性的指示。