光检测装置
    1.
    发明公开
    光检测装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN118661261A

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN202380020679.8

    申请日:2023-02-20

    Abstract: 光检测装置包含:基板、多个像素、电源线、读出信号线、复位信号线。像素具有:光电二极管,具有阴极电极;放大器晶体管,栅极与阴极电极连接,输入与电源线连接,输出与读出信号线连接;复位晶体管,栅极与复位信号线连接,输入与电源线连接,输出与阴极电极以及放大器晶体管的栅极连接;和第1接触孔,在基板的厚度方向上延伸,将阴极电极和放大器晶体管的栅极以及复位晶体管的输出连接,在电源线的延伸方向,位于放大器晶体管与复位晶体管之间。

    试样观察装置
    2.
    发明公开
    试样观察装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN116096852A

    公开(公告)日:2023-05-09

    申请号:CN202180058685.3

    申请日:2021-07-14

    Inventor: 神田荣二

    Abstract: 本公开的试样观察装置具备:透明容器,其收容包含试样的介质;光源部,其设置于容器的下方,朝向容器内照射第一照射光(I);受光构件,其接收第一照射光被介质散射后的散射光,受光构件具有透光区域和受光区域,位于介质和光源部之间的与光源部重叠的位置。

    光半导体模块以及样品观察装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117616779A

    公开(公告)日:2024-02-27

    申请号:CN202280047784.6

    申请日:2022-07-13

    Abstract: 本公开的光半导体模块具备:基板,具有第1面;多个像素部,在第1面上矩阵状地排列,各自具有光半导体元件;驱动电路,位于第1面上,对多个像素部供给电源电压,并且在与多个像素部之间进行图像信号的发送或接收;多个外部连接端子,位于第1面上;多个驱动布线,位于第1面上,将驱动电路和多个外部连接端子连接;和环状的天线布线,在俯视观察下包围多个像素部、驱动电路、多个外部连接端子以及多个驱动布线,两端部与驱动电路分别连接。

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