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发明公开
测定装置、测定系统、程序以及测定装置的校正方法审中-实审

公开(公告)号：CN116194737A

公开(公告)日：2023-05-30

申请号：CN202180055120.X

申请日：2021-09-14

Applicant: 京瓷株式会社

Inventor： 户田启介 , 工藤俊介

IPC: G01F1/661 , G01F1/663 , G01P5/26

Abstract: 测定装置具备发光部、受光部和运算处理部。发光部对在内部流过流体的被照射物照射光。受光部对包含在被照射物散射的光的干涉光进行受光，并输出与该干涉光的强度相应的信号。运算处理部对从受光部输出的信号生成信号强度的时间变化所涉及的频谱，并且基于该频谱来算出在被照射物的内部流动的流体的流动的状态所涉及的计算值。运算处理部对流体处于第1流动状态时从受光部输出的信号生成第1频谱，并且对流体处于流量比第1流动状态小的第2流动状态时从受光部输出的信号生成第2频谱，根据第1频谱与第2频谱的比较，来算出计算值的算出中所用的使用频率范围。

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