公开(公告)号：CN112805550B

公开(公告)日：2025-03-25

申请号：CN201980060924.1

申请日：2019-09-05

Applicant: 京瓷株式会社

Inventor： 丰仓祥太

IPC: G01N21/17

Abstract: 在本观察方法中，从光学相干断层成像仪获取测量对象在与深度方向相交的平面中的不同的多个位置处的测量值(S100)。在本观察方法中，在所述多个位置中的每个位置处，在所述深度方向上对所述测量值进行积分(S104)。在本观察方法中，在所述多个位置中的每个位置处，基于积分值来计算所述测量对象的收缩参数(S105)。

公开(公告)号：CN112703389A

公开(公告)日：2021-04-23

申请号：CN201980060628.1

申请日：2019-09-05

Applicant: 京瓷株式会社

Inventor： 丰仓祥太

IPC: G01N21/17

Abstract: 在本观察方法中，从光学相干断层成像仪获取测量对象在与深度方向相交的平面中的多个不同位置处的测量值(S100)。在本观察方法中，对多个位置中的每个位置处的同一深度位置的测量值求平均(S104)。在本观察方法中，在深度方向上对多个深度位置中的每个深度位置处的平均值计算积分值(S105)。在本观察方法中，基于积分值来计算测量对象的收缩参数(S106)。

公开(公告)号：CN112703389B

公开(公告)日：2025-03-25

申请号：CN201980060628.1

申请日：2019-09-05

Applicant: 京瓷株式会社

Inventor： 丰仓祥太

IPC: G01N21/17

Abstract: 在本观察方法中，从光学相干断层成像仪获取测量对象在与深度方向相交的平面中的多个不同位置处的测量值(S100)。在本观察方法中，对多个位置中的每个位置处的同一深度位置的测量值求平均(S104)。在本观察方法中，在深度方向上对多个深度位置中的每个深度位置处的平均值计算积分值(S105)。在本观察方法中，基于积分值来计算测量对象的收缩参数(S106)。

公开(公告)号：CN112805550A

公开(公告)日：2021-05-14

申请号：CN201980060924.1

申请日：2019-09-05

Applicant: 京瓷株式会社

Inventor： 丰仓祥太

IPC: G01N21/17

Abstract: 在本观察方法中，从光学相干断层成像仪获取测量对象在与深度方向相交的平面中的不同的多个位置处的测量值(S100)。在本观察方法中，在所述多个位置中的每个位置处，在所述深度方向上对所述测量值进行积分(S104)。在本观察方法中，在所述多个位置中的每个位置处，基于积分值来计算所述测量对象的收缩参数(S105)。