多路E1误码测试仪及多路E1误码测试方法

    公开(公告)号:CN101640571A

    公开(公告)日:2010-02-03

    申请号:CN200910042270.8

    申请日:2009-08-28

    Inventor: 叶武 毛茅 朱勤

    Abstract: 本发明公开了一种多路E1误码测试仪及多路E1误码测试方法,产品结构包括:多个E1信号接口、TVS管、变压器芯片、E1接口芯片、误码检测模块、本地调测模块和本地调测接口,所述本地调测接口与外部PC相连,用于接收外部传来的监控信息,并上报本地调测模块传来的误码测试数据和告警事件,该误码测试数据包括误码检测模块所记录的误码数。本发明多路E1误码测试仪还可以通过联网方式与上位机相连,由上位机进行集中管理。本发明能同时进行多路E1误码测试。

    多路E1误码测试仪及多路E1误码测试方法

    公开(公告)号:CN101640571B

    公开(公告)日:2012-09-05

    申请号:CN200910042270.8

    申请日:2009-08-28

    Inventor: 叶武 毛茅 朱勤

    Abstract: 本发明公开了一种多路E1误码测试仪及多路E1误码测试方法,产品结构包括:多个E1信号接口、TVS管、变压器芯片、E1接口芯片、误码检测模块、本地调测模块和本地调测接口,所述本地调测接口与外部PC相连,用于接收外部传来的监控信息,并上报本地调测模块传来的误码测试数据和告警事件,该误码测试数据包括误码检测模块所记录的误码数。本发明多路E1误码测试仪还可以通过联网方式与上位机相连,由上位机进行集中管理。本发明能同时进行多路E1误码测试。

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