一种测试装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110418369A

    公开(公告)日:2019-11-05

    申请号:CN201910801733.8

    申请日:2019-08-28

    Inventor: 何全 郑耀华 李新

    Abstract: 本发明实施例公开了一种测试装置,该测试装置包括控制器和多个测试单元,每个测试单元包括微带耦合器、射频开关和第一负载,微带耦合器将待测通道的输出功率耦合为测试功率,并通过耦合端和射频开关将测试功率发送给测试仪器,如此,控制器若确定对待测通道进行检测,则控制射频开关处于导通状态。本发明实施例中,通过使用通道可选的测试装置(包括控制器和多个测试单元)自动执行测试过程,可以无需手动频繁切换待测通道,从而可以提高测试效率、降低操作过程的复杂性;且,通过使用微带耦合器耦合待测通道的输出功率,使得测试装置能基于小功率的射频开关执行控制,而无需使用大功率的射频开关,从而可以降低成本,减小体积。

    一种测试装置
    4.
    实用新型

    公开(公告)号:CN210328001U

    公开(公告)日:2020-04-14

    申请号:CN201921415558.0

    申请日:2019-08-28

    Inventor: 何全 郑耀华 李新

    Abstract: 本实用新型实施例公开了一种测试装置,包括控制器和多个测试单元,每个测试单元包括微带耦合器、射频开关和第一负载,微带耦合器将待测通道的输出功率耦合为测试功率,并通过耦合端和射频开关将测试功率发送给测试仪器,如此,控制器若确定对待测通道进行检测,则控制射频开关处于导通状态。本实用新型实施例中,通过使用通道可选的测试装置(包括控制器和多个测试单元)自动执行测试过程,可以无需手动频繁切换待测通道,从而可以提高测试效率、降低操作过程的复杂性;且,通过使用微带耦合器耦合待测通道的输出功率,使得测试装置能基于小功率的射频开关执行控制,而无需使用大功率的射频开关,从而可以降低成本,减小体积。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

Patent Agency Ranking