显示面板检测方法及系统
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116381388A

    公开(公告)日:2023-07-04

    申请号:CN202310354443.X

    申请日:2023-04-04

    发明人: 林文勋

    IPC分类号: G01R31/00 G01R31/14 G01N21/84

    摘要: 本发明公开了一种显示面板检测方法及系统。方法包括:从多个待测显示面板中随机抽取显示面板作为第一面板样本,并确定第一面板样本的坏点数量作为第一数量,对第一面板样本施加预设电压值的反向电压,并持续预设时长,驱动第一面板样本显示,并确定第一面板样本的坏点数量作为第二数量,计算第二数量与第一数量的差值,得到第一面板样本的坏点增加数量,基于第一面板样本的坏点增加数量确定多个待测显示面板是否合格。在出厂检测阶段,向显示面板施加反向电压,在反向电压的激励下,使得子像素存在缺陷的阳极和阴极之间提前被击穿,提前激发坏点,在出厂前就能检测出来,避免用户使用过程中新增坏点导致售后成本增加的问题,降低了售后成本。

    显示面板可靠性评估方法、系统及电子设备

    公开(公告)号:CN116844439A

    公开(公告)日:2023-10-03

    申请号:CN202310580746.3

    申请日:2023-05-22

    发明人: 林文勋

    IPC分类号: G09G3/00

    摘要: 本发明公开一种显示面板可靠性评估方法、系统及电子设备,该方法包括:对待测面板进行高温老化处理,并基于高温老化时间建立目标测试序列,目标测试序列设有至少一个目标测试位点;在每个目标测试位点,获取待测面板中的所有驱动晶体管的阈值电压实测值;获取阈值电压异常基准值;根据阈值电压实测值、阈值电压异常基准值和高温老化时间生成可靠性评估报告。本发明通过对面板进行高温老化处理,结合不同高温老化节点测量阈值电压,基于扩展数据量识别驱动晶体管的阈值电压超限问题,准确验证像素单元的寿命,提高品质管理水平和显示面板的可靠性。