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公开(公告)号：CN102224096B
公开(公告)日：2013-07-24
申请号：CN200980146411.9
申请日：2009-09-21
Applicant: 乌斯特技术股份公司
CPC classification number: B65H63/06 , B65H69/00 , B65H2701/31 , G01N33/365
Abstract: 在本发明所述的用于设定在电子测量头处的待测长条形纺织品(例如纱线)的清纱界限的方法中，确定在待测产品中的容许与不容许缺陷部位之间的第一清纱界限，将该第一清纱界限在图中表示为第一清纱曲线(14)，并将该第一清纱界限传输到测量头；且该第一清纱界限取决于待测产品的至少两个参数。由第一清纱界限自动计算出在待测产品中的容许与不容许接纱之间的第二清纱界限；该第二清纱界限取决于待测产品的至少两个参数，在图中被表示为第二清纱曲线(16)，且被传输到测量头。由此，可简单地确定接纱的清纱界限，该清纱界限明确说明了用于除去接纱的区分标准。
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公开(公告)号：CN102272029B
公开(公告)日：2013-07-24
申请号：CN200980154063.X
申请日：2009-12-08
Applicant: 乌斯特技术股份公司
IPC: B65H63/06
CPC classification number: B65H63/062 , B65H2701/31 , G01N33/365
Abstract: 本发明所述的方法用于表征沿自身纵向移动的纱线的特性。检测沿纱线纵向的纱线特性的读数。根据该读数来确定纱线参数值。建立一事件域(3)，该事件域(3)包括二维笛卡尔坐标系中的一象限，且该坐标系中的横坐标(31)限定纱线参数值在纵向上的范围，该坐标系中的纵坐标(32)限定纱线参数相对于期望值的偏差。在事件域(3)中事件的密度是根据参数值及其在纵向上的范围来确定的。纱线主体在事件域(3)中被表示为区域(4)。区域(4)一方面是由横坐标(31)来界定的，另一方面是由纵坐标(32)、以及另外由在事件域(3)中的基本上沿恒定的事件密度延伸的线(41)来界定的。通过对纱线主体的表示，允许以快速而又合理的方式限定清纱界限(6)。
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公开(公告)号：CN102224096A
公开(公告)日：2011-10-19
申请号：CN200980146411.9
申请日：2009-09-21
Applicant: 乌斯特技术股份公司
CPC classification number: B65H63/06 , B65H69/00 , B65H2701/31 , G01N33/365
Abstract: 在本发明所述的用于设定在电子测量头处的待测长条形纺织品(例如纱线)的清纱界限的方法中，确定在待测产品中的容许与不容许缺陷部位之间的第一清纱界限，将该第一清纱界限在图中表示为第一清纱曲线(14)，并将该第一清纱界限传输到测量头；且该第一清纱界限取决于待测产品的至少两个参数。由第一清纱界限自动计算出在待测产品中的容许与不容许接纱之间的第二清纱界限；该第二清纱界限取决于待测产品的至少两个参数，在图中被表示为第二清纱曲线(16)，且被传输到测量头。由此，可简单地确定接纱的清纱界限，该清纱界限明确说明了用于除去接纱的区分标准。
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公开(公告)号：CN102596773A
公开(公告)日：2012-07-18
申请号：CN201080044448.3
申请日：2010-10-01
Applicant: 乌斯特技术股份公司
CPC classification number: D01H13/22 , B65H63/062 , B65H2701/31 , G01N33/365
Abstract: 一种在处理诸如像纱线一样细长纺织品测试材料的电子清纱系统上设置清纱极限的方法。首先，通过测试材料(101)的测量，测试材料的统计表示被确定(102)。基于该统计表示，清纱极限被计算(102)并且供于使用，其中被上述清纱极限预计的长度相关的不允许事例数被计算(103)并且输出(104)。操作者能提供被预计的不允许事例数量的注解(105)，于是清纱极限根据注解被自动设定(109)。这种方法便于用户操作并且易进行。
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公开(公告)号：CN102272029A
公开(公告)日：2011-12-07
申请号：CN200980154063.X
申请日：2009-12-08
Applicant: 乌斯特技术股份公司
IPC: B65H63/06
CPC classification number: B65H63/062 , B65H2701/31 , G01N33/365
Abstract: 本发明所述的方法用于表征沿自身纵向移动的纱线的特性。检测沿纱线纵向的纱线特性的读数。根据该读数来确定纱线参数值。建立一事件域(3)，该事件域(3)包括二维笛卡尔坐标系中的一象限，且该坐标系中的横坐标(31)限定纱线参数值在纵向上的范围，该坐标系中的纵坐标(32)限定纱线参数相对于期望值的偏差。在事件域(3)中事件的密度是根据参数值及其在纵向上的范围来确定的。纱线主体在事件域(3)中被表示为区域(4)。区域(4)一方面是由横坐标(31)来界定的，另一方面是由纵坐标(32)、以及另外由在事件域(3)中的基本上沿恒定的事件密度延伸的线(41)来界定的。通过对纱线主体的表示，允许以快速而又合理的方式限定清纱界限(6)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103415455A
公开(公告)日：2013-11-27
申请号：CN201280013627.X
申请日：2012-03-14
Applicant: 乌斯特技术股份公司
Abstract: 为了表征沿着它的纵向方向运动的纱线，检测沿着它的纵向方向的纱线的特性的测量值。从所述测量值确定所述纱线的参数值。提供一事件场（3），它的横坐标（31）指示沿着纵向方向的参数值的延伸量（L）并且它的纵坐标（32）指示所述参数与设定值的偏差（△M）。从所述参数值和它沿着纵向方向的延伸量（L）确定在事件场（3）中的运动的密度。测试材料主体计算为在事件场（3）中的面积（4），该面积（4）一方面由横坐标（31）或者与其平行延伸的直线、另一方面由纵坐标（32）或者与其平行延伸的直线、并且还由在事件场（3）中基本上具有恒定事件密度的线（4）限定边界。数字化地指示该面积（4）。至少一个数字指示值输出为所述纱线的特征。
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公开(公告)号：CN102596773B
公开(公告)日：2013-07-10
申请号：CN201080044448.3
申请日：2010-10-01
Applicant: 乌斯特技术股份公司
CPC classification number: D01H13/22 , B65H63/062 , B65H2701/31 , G01N33/365
Abstract: 一种在处理诸如像纱线一样细长纺织品测试材料的电子清纱系统上设置清纱极限的方法。首先，通过测试材料(101)的测量，测试材料的统计表示被确定(102)。基于该统计表示，清纱极限被计算(102)并且供于使用，其中被上述清纱极限预计的长度相关的不允许事例数被计算(103)并且输出(104)。操作者能提供被预计的不允许事例数量的注解(105)，于是清纱极限根据注解被自动设定(109)。这种方法便于用户操作并且易进行。
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公开(公告)号：CN103415455B
公开(公告)日：2016-11-16
申请号：CN201280013627.X
申请日：2012-03-14
Applicant: 乌斯特技术股份公司
Abstract: 为了表征沿着它的纵向方向运动的纱线，检测沿着它的纵向方向的纱线的特性的测量值。从所述测量值确定所述纱线的参数值。提供一事件场（3），它的横坐标（31）指示沿着纵向方向的参数值的延伸量（L）并且它的纵坐标（32）指示所述参数与设定值的偏差（△M）。从所述参数值和它沿着纵向方向的延伸量（L）确定在事件场（3）中的运动的密度。测试材料主体计算为在事件场（3）中的面积（4），该面积（4）一方面由横坐标（31）或者与其平行延伸的直线、另一方面由纵坐标（32）或者与其平行延伸的直线、并且还由在事件场（3）中基本上具有恒定事件密度的线（4）限定边界。数字化地指示该面积（4）。至少一个数字指示值输出为所述纱线的特征。
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公开(公告)号：CN103270413A
公开(公告)日：2013-08-28
申请号：CN201180050665.8
申请日：2011-10-05
Applicant: 乌斯特技术股份公司
CPC classification number: G01N33/365 , B65H63/064 , B65H63/065 , B65H2701/31 , G01N21/8915
Abstract: 所述清纱器，包括测量头（40），其具有用于检测纱线（90）的特性的电容测量单元（5）和光学测量单元（6）。评估单元（45）将所检测到的纱线特性与预定质量标准进行比较。切割器装置（10）在收到来自评估单元（45）的切割命令时切割所述纱线（90）。电容测量单元（5）检测纱线质量的变化，而光学测量单元（6）检测纱线直径的变化。如果由电容测量单元（5）检测到的纱线直径变化和/或由光学测量单元（6）检测到的纱线质量变化不符合预定的质量标准时，所述评估单元（45）输出不均匀切割命令。电容测量单元（5）和光学测量单元（6）两者还检测在纱线（90）中的异物。如果由电容测量单元（5）检测到的异物含量和/或由光学测量单元（6）检测到的异物含量不符合预定的质量标准时，所述评估单元（45）输出异物切割命令。所述清纱器是可以容易使用的。
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