公开(公告)号：CN117647470A

公开(公告)日：2024-03-05

申请号：CN202410114953.4

申请日：2024-01-29

Applicant: 之江实验室

Inventor： 应倩雯 ,  张宏亮 ,  李翠红 ,  王金川 ,  陈志明 ,  何朝雄 ,  胡慧珠

IPC: G01N15/02 ,  G01N15/0227 ,  G01N15/0205

Abstract: 本发明公开了一种基于悬浮光镊和互易定理测量散射场远场的装置及其应用。由颗粒投送装置和悬浮光镊部分分别投送单个纳米颗粒至捕获腔并悬浮捕获；由背景场输入调制部分将具有平面波性质的光束入射至被捕获颗粒以产生散射；通过远场成像部分和固定角度光电信号探测器分别接收和测量固定角度的散射场远场；通过散射场远场分布计算部分获得散射场远场分布。本发明使用悬浮光镊技术，能够避免颗粒受到采样衬底的影响；基于互易定理，调制背景场的入射方向并固定角度测量散射场远场，来代替传统方法改变散射场远场接收角度的过程。本发明使散射场远场的测量更便捷，方向角测量范围为[0,2π]，仰角测量范围为[0,π/2)，适用于识别被捕获的单个纳米颗粒形状。

公开(公告)号：CN117647470B

公开(公告)日：2024-06-07

申请号：CN202410114953.4

申请日：2024-01-29

Applicant: 之江实验室

Inventor： 应倩雯 ,  张宏亮 ,  李翠红 ,  王金川 ,  陈志明 ,  何朝雄 ,  胡慧珠

IPC: G01N15/02 ,  G01N15/0227 ,  G01N15/0205

Abstract: 本发明公开了一种基于悬浮光镊和互易定理测量散射场远场的装置及其应用。由颗粒投送装置和悬浮光镊部分分别投送单个纳米颗粒至捕获腔并悬浮捕获；由背景场输入调制部分将具有平面波性质的光束入射至被捕获颗粒以产生散射；通过远场成像部分和固定角度光电信号探测器分别接收和测量固定角度的散射场远场；通过散射场远场分布计算部分获得散射场远场分布。本发明使用悬浮光镊技术，能够避免颗粒受到采样衬底的影响；基于互易定理，调制背景场的入射方向并固定角度测量散射场远场，来代替传统方法改变散射场远场接收角度的过程。本发明使散射场远场的测量更便捷，方向角测量范围为[0,2π]，仰角测量范围为[0,π/2)，适用于识别被捕获的单个纳米颗粒形状。