反馈式加工条件校正装置与反馈式加工方法

    公开(公告)号:CN1172293A

    公开(公告)日:1998-02-04

    申请号:CN96109389.7

    申请日:1996-07-31

    Abstract: 本发明使用在多个已加工完工件在加工机10及加工后测量仪16间待机,加入加工机加工条件的校正值U的影响不能立即反映在加工后测量仪的测量值X的加工系统。在根据测量值X确定校正值U的反馈式加工条件校正装置中,正确把握校正值U在测量值X的反馈时刻,以提高校正值U的确定精度为目的,用顺序求与测量值U的此次值和上次值之差的测量值前后差,其测量值前后差出现极值,并且此时的值超过设定值以上时,便确定校正值U的方法实现了此目的。

    反馈式加工条件校正装置与反馈式加工方法

    公开(公告)号:CN1121637C

    公开(公告)日:2003-09-17

    申请号:CN96109389.7

    申请日:1996-07-31

    Abstract: 本发明使用在多个已加工完工件在加工机10及加工后测量仪16间待机,加入加工机加工条件的校正值U的影响不能立即反映在加工后测量仪的测量值X的加工系统。在根据测量值X确定校正值U的反馈式加工条件校正装置中,正确把握校正值U在测量值X的反馈时刻,以提高校正值U的确定精度为目的,用顺序求与测量值U的此次值和上次值之差的测量值前后差,其测量值前后差出现极值,并且此时的值超过设定值以上时,便确定校正值U的方法实现了此目的。

    反馈式加工条件校正装置

    公开(公告)号:CN1142423A

    公开(公告)日:1997-02-12

    申请号:CN96108494.4

    申请日:1996-04-26

    Abstract: 在通过反馈由加工后测定的测定仪器16获得的测定值X确定校正定尺寸装置14中的定尺寸点校正值U的反馈式加工条件校正装置中,将控制装置(20)与优先考虑校正速度、根据少数的测定值X确定校正值U的积分控制IC和优先考虑校正精度、根据多数的测定值X确定校正值U的模糊控制FC并用,在要求校正迅速性能期间将积分控制IC的校正值U传送给定尺寸装置14,在要求校正精度期间将模糊控制FC的校正值转送给定尺寸装置(14)。

    反馈式加工条件校正装置

    公开(公告)号:CN1085574C

    公开(公告)日:2002-05-29

    申请号:CN96108494.4

    申请日:1996-04-26

    Abstract: 在通过反馈由加工后测定的测定仪器16获得的测定值X确定校正定尺寸装置14中的定尺寸点校正值U的反馈式加工条件校正装置中,将控制装置(20)与优先考虑校正速度、根据少数的测定值X确定校正值U的积分控制IC和优先考虑校正精度、根据多数的测定值X确定校正值U的模糊控制FC并用,在要求校正迅速性能期间将积分控制IC的校正值U传送给定尺寸装置14,在要求校正精度期间将模糊控制FC的校正值转送给定尺寸装置(14)。

    压力泄漏的测定方法
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1080880C

    公开(公告)日:2002-03-13

    申请号:CN96110683.2

    申请日:1996-07-19

    Abstract: 本发明提供一种压力泄漏测定方法。有压力泄漏的被测工件的从时刻t0到t1的压差曲线(虚线)是在ΔP0的曲线上加上困压力泄漏引起的压差ΔP而得到的,压差ΔP的每单位时间变化量是一定的。因此,若从图1的虚线减去实线,则可求出因压力泄漏引起的压差ΔP的时效变化,该压差ΔP在从时刻t0到t1之间也线性变化。所以,即使在时刻t0到t1之间,也能从压差ΔP的每单位时间变化量算出压力泄漏的大小。

    压力泄漏的测定方法
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1152122A

    公开(公告)日:1997-06-18

    申请号:CN96110683.2

    申请日:1996-07-19

    Abstract: 本发明提供一种压力泄漏测定方法。有压力泄漏的被测工件的从时刻t0到t1的压差曲线(虚线)是在△P0的曲线上加上因压力泄漏引起的压差△P而得到的,压差△P的每单位时间变化量是一定的。因此,若从图1的虚线减去实线,则可求出因压力泄漏引起的压差△P的时效变化,该压差△P在从时刻t0到t1之间也线性变化。所以,即使在时刻t0到t1之间,也能从压差△P的每单位时间变化量算出压力泄漏的大小。

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